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公开(公告)号:CN1790045A
公开(公告)日:2006-06-21
申请号:CN200510133860.3
申请日:2003-11-21
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L27/22 , G01P3/487 , G01R33/02 , Y10T428/1193
Abstract: 一种磁阻抗器件包括半导体基片(22、322)和用于检测磁场的磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)。磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)被置于基片(22、322)上。磁性传感器设备具有最小尺寸并且是以低制造成本制成的。在此,磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)以以下方式来检测磁场:当交流电被施加给器件(1、2、301、301A、301B)时,器件(1、2、301、301A、301B)的阻抗依照该磁场而变化,并且阻抗是通过外部电路(312、313、314、315)来测量的。
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公开(公告)号:CN100526904C
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:CN200510133860.3
申请日:2003-11-21
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L27/22 , G01P3/487 , G01R33/02 , Y10T428/1193
Abstract: 一种磁阻抗器件包括半导体基片(22、322)和用于检测磁场的磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)。磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)被置于基片(22、322)上。磁性传感器设备具有最小尺寸并且是以低制造成本制成的。在此,磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)以以下方式来检测磁场:当交流电被施加给器件(1、2、301、301A、301B)时,器件(1、2、301、301A、301B)的阻抗依照该磁场而变化,并且阻抗是通过外部电路(312、313、314、315)来测量的。
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公开(公告)号:CN100468523C
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN200310118343.X
申请日:2003-11-21
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L27/22 , G01P3/487 , G01R33/02 , Y10T428/1193
Abstract: 一种磁阻抗器件包括半导体基片(22、322)和用于检测磁场的磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)。磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)被置于基片(22、322)上。磁性传感器设备具有最小尺寸并且是以低制造成本制成的。在此,磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)以以下方式来检测磁场:当交流电被施加给器件(1、2、301、301A、301B)时,器件(1、2、301、301A、301B)的阻抗依照该磁场而变化,并且阻抗是通过外部电路(312、313、314、315)来测量的。
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公开(公告)号:CN1503230A
公开(公告)日:2004-06-09
申请号:CN200310118343.X
申请日:2003-11-21
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L27/22 , G01P3/487 , G01R33/02 , Y10T428/1193
Abstract: 一种磁阻抗器件包括半导体基片(22、322)和用于检测磁场的磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)。磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)被置于基片(22、322)上。磁性传感器设备具有最小尺寸并且是以低制造成本制成的。在此,磁阻抗器件(1、2、301、301A、301B)以以下方式来检测磁场:当交流电被施加给器件(1、2、301、301A、301B)时,器件(1、2、301、301A、301B)的阻抗依照该磁场而变化,并且阻抗是通过外部电路(312、313、314、315)来测量的。
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