具有嵌入多孔介质中的通孔的电容器结构

    公开(公告)号:CN116601729A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202180080814.9

    申请日:2021-11-22

    Abstract: 公开了一种电容器结构。该电容器结构包括:基板(102);在基板(102)上方的导电层(104);以及在导电层(104)上方的多孔层,该多孔层具有从多孔层的顶部表面向导电层(104)垂直延伸的孔。多孔层包括第一区域(110)和第二区域(120),第一区域(110)的孔中设置有导电线,并且第二区域(120)的孔中设置有金属‑绝缘体‑金属(MIM)结构。第一区域(110)可以用作用于接触电容器结构的底部电极的通孔。

    电气器件以及制造电气器件的方法

    公开(公告)号:CN116264220A

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202211589417.7

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明提供了一种电气器件以及制造电气器件的方法。一种制造电气器件的方法,包括:对可阳极氧化金属层的部分进行阳极氧化,以获得阳极多孔氧化物区域(101)以及与阳极多孔氧化物区域相邻的可阳极氧化金属区域(100),阳极多孔氧化物区域比可阳极氧化金属区域厚;在阳极多孔氧化物区域和可阳极氧化金属区域上沉积衬垫材料的层(105);在衬垫材料的层上沉积填充材料的层(106)以获得具有顶表面的堆叠结构,填充材料与衬垫材料不同;对从堆叠结构的顶表面起直至到达衬垫材料的层的堆叠结构进行平坦化,以暴露位于阳极多孔氧化物区域的至少一部分(112)上方的衬垫材料的部分(111);去除衬垫材料的暴露部分。

    用于制造电容元件及其他装置的采用表面面积放大的基底

    公开(公告)号:CN110892497B

    公开(公告)日:2022-01-07

    申请号:CN201880045989.4

    申请日:2018-07-10

    Abstract: 由基底(1)提供放大的表面面积,该基底(1)包括:基层(2),该基层具有限定多个第一沟槽(3)和介于中间的第一平台(4)的第一主表面(2A);以及覆盖层(12),该覆盖层设置在基层(2)的第一主表面(2A)上并以基本保形的方式覆盖第一沟槽(3)和第一平台(4),其中,覆盖层的远离基层的第一主表面(2A)的表面(12A)包括多个第二沟槽(13)和介于中间的第二平台(14),第二沟槽和第二平台以比第一沟槽和第一平台的比例小的比例被限定。基底可以用于制造电容元件,在电容元件中设置有薄膜层并且薄膜层以保形的方式覆盖覆盖层的第二沟槽和第二平台,以创建具有高的电容密度的金属‑绝缘体‑金属结构。

    用于制造电容元件及其他装置的采用表面面积放大的基底

    公开(公告)号:CN110892497A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201880045989.4

    申请日:2018-07-10

    Abstract: 由基底(1)提供放大的表面面积,该基底(1)包括:基层(2),该基层具有限定多个第一沟槽(3)和介于中间的第一平台(4)的第一主表面(2A);以及覆盖层(12),该覆盖层设置在基层(2)的第一主表面(2A)上并以基本保形的方式覆盖第一沟槽(3)和第一平台(4),其中,覆盖层的远离基层的第一主表面(2A)的表面(12A)包括多个第二沟槽(13)和介于中间的第二平台(14),第二沟槽和第二平台以比第一沟槽和第一平台的比例小的比例被限定。基底可以用于制造电容元件,在电容元件中设置有薄膜层并且薄膜层以保形的方式覆盖覆盖层的第二沟槽和第二平台,以创建具有高的电容密度的金属-绝缘体-金属结构。

    三维电容性结构及其制造方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113661581A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202080027445.2

    申请日:2020-04-06

    Abstract: 三维电容性结构(150)可以通过在多孔阳极氧化物的区域(152a)中的孔(151)上方共形地形成电容性堆叠(153至155)来产生。多孔阳极氧化物区域设置在包括抗阳极氧化层和互连层(159)的导电层(158、159)的堆叠上。在孔中,非常接近于孔底部存在具有受限直径(D)的位置(P)。在阳极氧化物的区域(152a)中的第一百分比的孔中,形成电容性堆叠(153至155)的功能部分(F),以便延伸到孔中,不超过直径受限的位置(P)。可能存在于抗阳极氧化层(159)中的裂纹对电容性结构的特性具有降低的影响。可以容忍抗阳极氧化层(159)的厚度增加,使得整个电容性结构的等效串联电阻能够降低。

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