制造具有改进的切割特性的半导体结构的方法

    公开(公告)号:CN114930558A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202180008344.5

    申请日:2021-01-04

    Abstract: 公开了一种制造半导体结构的方法。该方法包括:在晶片上形成第一金属层;在第一金属层上形成第二金属层;在第二金属层的位于晶片的电路区域上方的第一区域中形成第一多孔结构,并且在第二金属层的位于晶片的切割区域上方的第二区域中形成第二多孔结构,其中,第一多孔结构包括第一组孔,并且其中,第二多孔结构包括第二组孔;在第一多孔结构的第一组孔中形成金属‑绝缘体‑金属叠层;以及蚀刻第二多孔结构的第二组孔蚀刻以暴露硅晶片的切割区域。

    具有嵌入多孔介质中的通孔的电容器结构

    公开(公告)号:CN116601729A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202180080814.9

    申请日:2021-11-22

    Abstract: 公开了一种电容器结构。该电容器结构包括:基板(102);在基板(102)上方的导电层(104);以及在导电层(104)上方的多孔层,该多孔层具有从多孔层的顶部表面向导电层(104)垂直延伸的孔。多孔层包括第一区域(110)和第二区域(120),第一区域(110)的孔中设置有导电线,并且第二区域(120)的孔中设置有金属‑绝缘体‑金属(MIM)结构。第一区域(110)可以用作用于接触电容器结构的底部电极的通孔。

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