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公开(公告)号：CN102471750A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080034791.X
申请日：2010-05-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12M1/34
Abstract: 本发明提供一种细菌分类装置及细菌检查预处理装置。以往，当自动分类结果与检查技师的估断不一致时，必须从显示的图像上逐一重新选择作为钓菌对象的菌群。本发明的细菌检查预处理装置具备：由用户指定分类数量及显示菌群数量的增减的单元、及据此显示分类结果的单元。通过本发明，使自动分类结果接近于检查技师的估断的操作变得容易，且能够削减确认合适的钓菌对象菌群所需要的作业时间。
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公开(公告)号：CN104903714B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201480004245.X
申请日：2014-01-14
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/27 , G01N27/26 , G01N27/28 , G01N27/416
CPC classification number: G01N27/4163
Abstract: 对于电化学测定流动电解槽中外加电压时在电极间流动的电流值，由于电化学测定流动电解槽和测定装置、测定对象溶液等个体差异或它们的组合，未必是相同的值。因此，决定某个恒定的阈值，通过与其比较，检测出测定异常的可能性是困难的。本发明的装置使用在导入试样溶液，在工作电极与对电极之间外加电压，对试样溶液进行电化学分析后，排出试样溶液，由此连续地进行电化学测定的电化学测定用流动电解槽进行测定，该装置的最主要的特征在于，包括：在外加电压时测定电极间流动的电流值的单元；记录所述测定出的电流值的单元；将所述记录的电流值与作为另外决定的判定基准的电流值进行比较的单元；以及通过所述比较，判断在判定对象循环中测定及记录的电流值是否正常的单元。
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公开(公告)号：CN102471750B
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201080034791.X
申请日：2010-05-21
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: C12M1/34
Abstract: 本发明提供一种细菌分类装置及细菌检查预处理装置。以往，当自动分类结果与检查技师的估断不一致时，必须从显示的图像上逐一重新选择作为钓菌对象的菌群。本发明的细菌检查预处理装置具备：由用户指定分类数量及显示菌群数量的增减的单元、及据此显示分类结果的单元。通过本发明，使自动分类结果接近于检查技师的估断的操作变得容易，且能够削减确认合适的钓菌对象菌群所需要的作业时间。
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公开(公告)号：CN104137220B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201380011705.7
申请日：2013-03-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G09B19/24 , G06F3/0484 , G09B5/02 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/22
Abstract: 本发明为了提高初学者的带电粒子束装置的技能，特征在于，具有：显示操作画面(200)的图像显示装置，该操作画面显示电子显微镜的操作项目；存储装置，其使辅助按钮(B122)相关的信息与图像(C51)的画质对应，并且与电子显微镜的参数设定值的组合即观察条件对应地存储，其中，所述辅助按钮(B122)相关的信息显示从电子显微镜的检测器取得的图像(C51)状态相关的信息；以及操作程序，其解析从检测器取得的图像的画质，根据作为解析结果的图像的画质以及当前的观察条件，从存储装置取得辅助按钮(B122)，在操作画面(200)的预定位置显示该取得的辅助按钮(B122)。
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公开(公告)号：CN104903714A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201480004245.X
申请日：2014-01-14
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N27/27 , G01N27/26 , G01N27/28 , G01N27/416
CPC classification number: G01N27/4163
Abstract: 对于电化学测定流动电解槽中外加电压时在电极间流动的电流值，由于电化学测定流动电解槽和测定装置、测定对象溶液等个体差异或它们的组合，未必是相同的值。因此，决定某个恒定的阈值，通过与其比较，检测出测定异常的可能性是困难的。本发明的装置使用在导入试样溶液，在工作电极与对电极之间外加电压，对试样溶液进行电化学分析后，排出试样溶液，由此连续地进行电化学测定的电化学测定用流动电解槽进行测定，该装置的最主要的特征在于，包括：在外加电压时测定电极间流动的电流值的单元；记录所述测定出的电流值的单元；将所述记录的电流值与作为另外决定的判定基准的电流值进行比较的单元；以及通过所述比较，判断在判定对象循环中测定及记录的电流值是否正常的单元。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101509926B
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN200910006421.4
申请日：2009-02-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N35/00732 , G01N35/00603 , G01N35/00693 , G01N2035/00821 , G01N2035/00891
Abstract: 本发明提供一种自动分析装置。作为自动分析装置的操作部中的存储方式，提供：记录构成自动分析装置的各设备的动作或自动分析装置的维护的实施状况、和用于分析检查的消耗品的使用经过的存储部；以及作为确定为了导出检量线而进行的分析检查的信息，对于该分析检查赋予ID的分析ID管理部。另外，按照进行了分析检查的检体顺序以及进行了分析检查的分析项目顺序，在同一时间轴上展开在存储部中存储的数据，输出到全体数据显示区域上，或者从各个检体的分析项目的分析过程的观点出发，展开后输出到各检体的分析结果的记录上。
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公开(公告)号：CN103733298B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201280039452.X
申请日：2012-05-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/153 , H01J37/10 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/1532 , H01J2237/21
Abstract: 近年来，扫描电子显微镜等带电粒子束装置的用户范围扩大了。要求每个用户都要掌握手动调整技术，但将用于观察的参数全部调整为合适的值是非常困难的。因此，对于初学者来说难以充分发挥装置的性能。本发明的目的是提供一种带电粒子束装置，其具备用于使任何人都能容易地掌握手动调整技术的参数调整练习功能。为了解决上述课题，设置聚焦调整及像散调整的练习单元。其特征在于，根据用户的操作设定物镜的聚焦条件和X方向像散修正器以及Y方向像散修正器的控制条件，按照设定的聚焦条件、X方向像散修正条件以及Y方向像散修正条件的组，从存储装置读出与该控制条件对应的练习用图像，显示在画面上。
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公开(公告)号：CN104137220A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201380011705.7
申请日：2013-03-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G09B19/24 , G06F3/0484 , G09B5/02 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/22
Abstract: 本发明为了提高初学者的带电粒子束装置的技能，特征在于，具有：显示操作画面(200)的图像显示装置，该操作画面显示电子显微镜的操作项目；存储装置，其使辅助按钮(B122)相关的信息与图像(C51)的画质对应，并且与电子显微镜的参数设定值的组合即观察条件对应地存储，其中，所述辅助按钮(B122)相关的信息显示从电子显微镜的检测器取得的图像(C51)状态相关的信息；以及操作程序，其解析从检测器取得的图像的画质，根据作为解析结果的图像的画质以及当前的观察条件，从存储装置取得辅助按钮(B122)，在操作画面(200)的预定位置显示该取得的辅助按钮(B122)。
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公开(公告)号：CN103733298A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201280039452.X
申请日：2012-05-28
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J37/153 , H01J37/10 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/1532 , H01J2237/21
Abstract: 近年来，扫描电子显微镜等带电粒子束装置的用户范围扩大了。要求每个用户都要掌握手动调整技术，但将用于观察的参数全部调整为合适的值是非常困难的。因此，对于初学者来说难以充分发挥装置的性能。本发明的目的是提供一种带电粒子束装置，其具备用于使任何人都能容易地掌握手动调整技术的参数调整练习功能。为了解决上述课题，设置聚焦调整及像散调整的练习单元。其特征在于，根据用户的操作设定物镜的聚焦条件和X方向像散修正器以及Y方向像散修正器的控制条件，按照设定的聚焦条件、X方向像散修正条件以及Y方向像散修正条件的组，从存储装置读出与该控制条件对应的练习用图像，显示在画面上。
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公开(公告)号：CN101509926A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200910006421.4
申请日：2009-02-12
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N35/00732 , G01N35/00603 , G01N35/00693 , G01N2035/00821 , G01N2035/00891
Abstract: 本发明提供一种自动分析装置。作为自动分析装置的操作部中的存储方式，提供：记录构成自动分析装置的各设备的动作或自动分析装置的维护的实施状况、和用于分析检查的消耗品的使用经过的存储部；以及作为确定为了导出检量线而进行的分析检查的信息，对于该分析检查赋予ID的分析ID管理部。另外，按照进行了分析检查的检体顺序以及进行了分析检查的分析项目顺序，在同一时间轴上展开在存储部中存储的数据，输出到全体数据显示区域上，或者从各个检体的分析项目的分析过程的观点出发，展开后输出到各检体的分析结果的记录上。
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