公开(公告)号：CN105849855B

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201480071494.0

申请日：2014-12-05

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 梅田光洋 ,  吉冈信二 ,  吉江正树 ,  照井康

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7266 ,  H01J49/06 ,  H01J49/061 ,  H01J49/165 ,  H01J49/24

Abstract: 本发明提供液相色谱质谱分析装置，减少在离子化时未离子化的中性粒子、来自液相色谱仪所使用的溶剂的低分子离子，提高装置的灵敏度。具备离子源(102、104、120、121)、质谱分析部及检测器，还具备平行地配置的三片电极(105、106、107)，第一电极(105)以及第二电极(106)具有用于使离子通过的开口部(122、123)，在第二电极(106)与第三电极(107)之间使离子的轨道偏转，而将在离子源(102、104、120、121)生成的离子朝质谱分析部侧导入。

公开(公告)号：CN105247652A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201480029914.9

申请日：2014-06-27

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 照井康 ,  吉江正树

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7233 ,  H01J49/0404 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10

Abstract: 本发明提供质量分析装置。在能够与液相色谱仪连接的质量分析装置中，以稳健性的提高、灵敏度提高、维护性的提高为目的。本发明的质量分析装置具备：离子源(100)；质量分析部；具有相对于向质量分析装置导入离子的轴(540)能够从正交方向导入离子的入口的作为电极的多个平板(115)；设于上述质量分析部与上述多个平板之间的细孔部件(140)；以及相对于上述多个平板使气体向与离子导入方向相反的一侧流动的机构，上述多个平板(115)配置于大气压下，上述多个电极被设定为比室温高的温度。

公开(公告)号：CN105247652B

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201480029914.9

申请日：2014-06-27

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 照井康 ,  吉江正树

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7233 ,  H01J49/0404 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10

Abstract: 本发明提供质量分析装置。在能够与液相色谱仪连接的质量分析装置中，以稳健性的提高、灵敏度提高、维护性的提高为目的。本发明的质量分析装置具备：离子源(100)；质量分析部；具有相对于向质量分析装置导入离子的轴(540)能够从正交方向导入离子的入口的作为电极的多个平板(115)；设于上述质量分析部与上述多个平板之间的细孔部件(140)；以及相对于上述多个平板使气体向与离子导入方向相反的一侧流动的机构，上述多个平板(115)配置于大气压下，上述多个电极被设定为比室温高的温度。

公开(公告)号：CN105849855A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201480071494.0

申请日：2014-12-05

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 梅田光洋 ,  吉冈信二 ,  吉江正树 ,  照井康

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

CPC classification number: G01N30/7266 ,  H01J49/06 ,  H01J49/061 ,  H01J49/165 ,  H01J49/24

Abstract: 本发明提供液相色谱质谱分析装置，减少在离子化时未离子化的中性粒子、来自液相色谱仪所使用的溶剂的低分子离子，提高装置的灵敏度。具备离子源(102、104、120、121)、质谱分析部及检测器，还具备平行地配置的三片电极(105、106、107)，第一电极(105)以及第二电极(106)具有用于使离子通过的开口部(122、123)，在第二电极(106)与第三电极(107)之间使离子的轨道偏转，而将在离子源(102、104、120、121)生成的离子朝质谱分析部侧导入。

公开(公告)号：CN118402038A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202280083478.8

申请日：2022-01-26

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 中村花菜 ,  师子鹿司 ,  吉江正树

IPC: H01J49/26 ,  H01J49/02

Abstract: 本发明为了提供一种能够缩短获得遍及宽质量电荷比范围的质谱所需的时间的质量分析装置，包括：由试料生成离子的离子化部、根据质量电荷比分离所述离子的滤质器、以及检测由所述滤质器分离的离子的检测部，该质量分析装置的特征在于，还包括：将所述离子输送到所述滤质器的离子导向器；以及控制部，该控制部一边执行使施加到所述离子导向器的高频电压随时间增加的扫描控制和使所述高频电压保持恒定的步进控制，一边使用所得到的检测信号来生成质谱或质量色谱图。