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公开(公告)号：CN101826515B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201010110092.0
申请日：2010-02-02
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L25/00
CPC classification number: H01L25/18 , G11C5/04 , H01L25/0657 , H01L2224/05001 , H01L2224/05009 , H01L2224/0557 , H01L2224/05571 , H01L2224/16145 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2924/00014 , H01L2924/01019 , H01L2924/13091 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099
Abstract: 本发明提供一种半导体集成电路器件，能在具有贯通孔的层叠结构的半导体芯片中实现高速的芯片间通信。在层叠为N级的半导体芯片(3001～300N)的贯通孔路径中，在各半导体芯片(3001～300N)内设置循环缓冲电路(301)。例如，由半导体芯片(300N)的输出缓冲电路(107)发送的信号经由各半导体芯片(3001～300N)的循环缓冲电路(301)而传输至半导体芯片(3001)的输入缓冲电路(108)。各循环缓冲电路(301)能够将其输入侧和输出侧的阻抗分离，因此，能减少由寄生于各半导体芯片(3001～300N)的贯通孔路径的寄生电容引起的波形品质的劣化，并能高速传输信号。
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公开(公告)号：CN110521104A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201880023963.X
申请日：2018-02-22
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明的目的在于，在具有多个功率半导体器件的电力转换装置中，不设置温度传感器而廉价地在动作时检测开关元件的温度，诊断、控制电力转换装置的状态。为了达到上述目，本发明提供一种包括具有开关元件的功率半导体器件的电力转换装置，其包括：用于驱动开关元件的栅极驱动电路，其能够发送开关元件进行开关动作时的反馈信号；将用于进行开关的PWM指令信号输出至栅极驱动电路的控制部；基于PWM指令信号和反馈信号计算开关元件的结温度的温度检测部；和基于由温度检测部计算出的结温度和PWM指令信号来分析功率半导体器件的状态的运算处理部。
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公开(公告)号：CN101826515A
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN201010110092.0
申请日：2010-02-02
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L25/00
CPC classification number: H01L25/18 , G11C5/04 , H01L25/0657 , H01L2224/05001 , H01L2224/05009 , H01L2224/0557 , H01L2224/05571 , H01L2224/16145 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2924/00014 , H01L2924/01019 , H01L2924/13091 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099
Abstract: 本发明提供一种半导体集成电路器件，能在具有贯通孔的层叠结构的半导体芯片中实现高速的芯片间通信。在层叠为N级的半导体芯片(3001～300N)的贯通孔路径中，在各半导体芯片(3001～300N)内设置循环缓冲电路(301)。例如，由半导体芯片(300N)的输出缓冲电路(107)发送的信号经由各半导体芯片(3001～300N)的循环缓冲电路(301)而传输至半导体芯片(3001)的输入缓冲电路(108)。各循环缓冲电路(301)能够将其输入侧和输出侧的阻抗分离，因此，能减少由寄生于各半导体芯片(3001～300N)的贯通孔路径的寄生电容引起的波形品质的劣化，并能高速传输信号。
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公开(公告)号：CN110521104B
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN201880023963.X
申请日：2018-02-22
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明的目的在于，在具有多个功率半导体器件的电力转换装置中，不设置温度传感器而廉价地在动作时检测开关元件的温度，诊断、控制电力转换装置的状态。为了达到上述目，本发明提供一种包括具有开关元件的功率半导体器件的电力转换装置，其包括：用于驱动开关元件的栅极驱动电路，其能够发送开关元件进行开关动作时的反馈信号；将用于进行开关的PWM指令信号输出至栅极驱动电路的控制部；基于PWM指令信号和反馈信号计算开关元件的结温度的温度检测部；和基于由温度检测部计算出的结温度和PWM指令信号来分析功率半导体器件的状态的运算处理部。
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