基板检查装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101165546A

    公开(公告)日:2008-04-23

    申请号:CN200710123550.2

    申请日:2007-07-02

    Abstract: 本发明提供一种基板检查装置,其借由设置探测器框储料器而防止占据面积的增大。该基板检查装置(1)包括:主室(2),其在真空状态下进行基板的检查;负载固定室(3),其在与大气侧之间及与主室之间进行基板的搬入搬出;探测器框储料器(4),其用于存储与基板进行电气接触并施加检查信号的探测器框(20);而且,其探测器框储料器(4)配置在负载固定室(3)或主室(2)的上部。借由采用将探测器框储料器(4)配置在负载固定室(3)上或主室(2)上的构成,而使探测器框储料器(4)所需的占据面积,可直接利用负载固定室(3)或主室(2)的占据面积,能够防止占据面积的增大。

    基板检查装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101165546B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200710123550.2

    申请日:2007-07-02

    Abstract: 本发明提供一种基板检查装置,其借由设置探测器框储料器而防止占据面积的增大。该基板检查装置(1)包括:主室(2),其在真空状态下进行基板的检查;负载固定室(3),其在与大气侧之间及与主室之间进行基板的搬入搬出;探测器框储料器(4),其用于存储与基板进行电气接触并施加检查信号的探测器框(20);而且,其探测器框储料器(4)配置在负载固定室(3)或主室(2)的上部。借由采用将探测器框储料器(4)配置在负载固定室(3)上或主室(2)上的构成,而使探测器框储料器(4)所需的占据面积,可直接利用负载固定室(3)或主室(2)的占据面积,能够防止占据面积的增大。

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