制造装置管理系统以及制造装置管理方法

    公开(公告)号:CN104934349A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510094685.5

    申请日:2015-03-03

    Inventor: 麻柄隆

    Abstract: 本发明提供一种制造装置管理系统以及制造装置管理方法。实施方式所涉及的制造装置管理系统包括不合格率检测部、明显误差检验部、以及不合格判定部。所述不合格率检测部提取具有第1不合格率的第1装置通过履历。所述不合格率检测部检测从所述第1装置通过履历除去了具有第2不合格率的第2装置通过履历的第3不合格率。所述明显误差检验部算出明显误差检验值。所述不合格判定部基于所述第3不合格率和所述明显误差检验值提取第3装置通过履历。

    检查系统、检查方法及检查装置

    公开(公告)号:CN102693924A

    公开(公告)日:2012-09-26

    申请号:CN201210060258.1

    申请日:2012-03-08

    Abstract: 根据一个实施形态,本发明提供具备抽样检查部、检查插补部、等级划分部以及信息制作部的检查系统。抽样检查部收集通过抽样检查获得的元件的特性值。检查插补部使用插补法求出没进行过上述抽样检查的未检查的元件的特性值。等级划分部根据上述收集到的通过抽样检查获得的元件的特性值和通过上述检查插补部求出的元件的特性值按等级制作与元件组有关的信息。信息制作部根据与上述等级和上述元件组有关的信息制作所希望的信息。

    制造装置管理系统以及制造装置管理方法

    公开(公告)号:CN104934349B

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201510094685.5

    申请日:2015-03-03

    Inventor: 麻柄隆

    Abstract: 本发明提供一种制造装置管理系统以及制造装置管理方法。实施方式所涉及的制造装置管理系统包括不合格率检测部、明显误差检验部、以及不合格判定部。所述不合格率检测部提取具有第1不合格率的第1装置通过履历。所述不合格率检测部检测从所述第1装置通过履历除去了具有第2不合格率的第2装置通过履历的第3不合格率。所述明显误差检验部算出明显误差检验值。所述不合格判定部基于所述第3不合格率和所述明显误差检验值提取第3装置通过履历。

    检查系统、检查方法及检查装置

    公开(公告)号:CN102693924B

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201210060258.1

    申请日:2012-03-08

    Abstract: 根据一个实施形态,本发明提供具备抽样检查部、检查插补部、等级划分部以及信息制作部的检查系统。抽样检查部收集通过抽样检查获得的元件的特性值。检查插补部使用插补法求出没进行过上述抽样检查的未检查的元件的特性值。等级划分部根据上述收集到的通过抽样检查获得的元件的特性值和通过上述检查插补部求出的元件的特性值按等级制作与元件组有关的信息。信息制作部根据与上述等级和上述元件组有关的信息制作所希望的信息。

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