公开(公告)号：CN103017795B

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201210225044.5

申请日：2012-06-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 福泽英明 ,  大黑达也 ,  小岛章弘 ,  杉崎吉昭 ,  高柳万里子 ,  藤庆彦 ,  堀昭男 ,  原通子

IPC: G01D5/12 ,  H04R31/00

CPC classification number: B81C1/00158 ,  B81B2201/0264 ,  B81C1/00246 ,  B81C2203/0771 ,  G01L9/0042 ,  H04R1/08 ,  H04R19/005 ,  H04R19/04 ,  H04R31/00

Abstract: 根据一个实施例，应变和压力检测器件包括半导体电路单元和检测单元。所述半导体电路单元包括半导体衬底和晶体管。所述晶体管设置在半导体衬底上。所述检测单元设置在所述半导体电路单元上，并且具有空间部分和非空间部分。所述非空间部分与所述空间部分并列。所述检测单元进一步包括活动梁、应变检测元件单元、以及第一和第二埋置互连部。所述活动梁具有固定部分和活动部分，并且包括第一和第二互连层。所述固定部分被固定到所述非空间部分。所述活动部分与所述晶体管分开并从所述固定部分延伸到所述空间部分中。所述应变检测元件单元被固定到所述活动部分。所述第一和第二埋置互连部设置在所述非空间部分中。

公开(公告)号：CN103017795A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201210225044.5

申请日：2012-06-29

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 福泽英明 ,  大黑达也 ,  小岛章弘 ,  杉崎吉昭 ,  高柳万里子 ,  藤庆彦 ,  堀昭男 ,  原通子

IPC: G01D5/12 ,  H04R31/00

CPC classification number: B81C1/00158 ,  B81B2201/0264 ,  B81C1/00246 ,  B81C2203/0771 ,  G01L9/0042 ,  H04R1/08 ,  H04R19/005 ,  H04R19/04 ,  H04R31/00

Abstract: 根据一个实施例，应变和压力检测器件包括半导体电路单元和检测单元。所述半导体电路单元包括半导体衬底和晶体管。所述晶体管设置在半导体衬底上。所述检测单元设置在所述半导体电路单元上，并且具有空间部分和非空间部分。所述非空间部分与所述空间部分并列。所述检测单元进一步包括活动梁、应变检测元件单元、以及第一和第二埋置互连部。所述活动梁具有固定部分和活动部分，并且包括第一和第二互连层。所述固定部分被固定到所述非空间部分。所述活动部分与所述晶体管分开并从所述固定部分延伸到所述空间部分中。所述应变检测元件单元被固定到所述活动部分。所述第一和第二埋置互连部设置在所述非空间部分中。