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公开(公告)号:CN101504944B
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN200910003998.X
申请日:2004-03-30
Applicant: 株式会社上睦可
IPC: H01L27/00 , H01L21/683 , H01L21/324
CPC classification number: F27D5/0037 , F27B17/0025 , H01L21/324 , H01L21/67109 , Y10T279/23
Abstract: 本发明提供一种硅片热处理夹具和热处理方法,在相互隔开间隔地从支承框向中心点突出的3个支承臂部的上侧设有支承突起,在将硅片载置在上述支承突起上、在热处理炉内进行热处理时,支承突起全部在硅片的同一圆周上、且位于硅片半径的外侧方向85~99.5%的范围内,各支承臂部分别配置成相对于中心点构成120°的角度,由此,使从销迹点进入的位移的自由深度比器件形成区域深,而且,使这样的晶片表面上没有滑动的无滑动区域扩大到最大。
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公开(公告)号:CN101504944A
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:CN200910003998.X
申请日:2004-03-30
Applicant: 株式会社上睦可
IPC: H01L27/00 , H01L21/683 , H01L21/324
CPC classification number: F27D5/0037 , F27B17/0025 , H01L21/324 , H01L21/67109 , Y10T279/23
Abstract: 本发明提供一种硅片热处理夹具和热处理方法,在相互隔开间隔地从支承框向中心点突出的3个支承臂部的上侧设有支承突起,在将硅片载置在上述支承突起上、在热处理炉内进行热处理时,支承突起全部在硅片的同一圆周上、且位于硅片半径的外侧方向85~99.5%的范围内,各支承臂部分别配置成相对于中心点构成120°的角度,由此,使从销迹点进入的位移的自由深度比器件形成区域深,而且,使这样的晶片表面上没有滑动的无滑动区域扩大到最大。
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公开(公告)号:CN1768421B
公开(公告)日:2010-04-28
申请号:CN200480008600.7
申请日:2004-03-30
Applicant: 株式会社上睦可
IPC: H01L21/68 , H01L21/22 , H01L21/324
CPC classification number: F27D5/0037 , F27B17/0025 , H01L21/324 , H01L21/67109 , Y10T279/23
Abstract: 本发明提供一种硅片热处理夹具和热处理方法,在相互隔开间隔地从支承框向中心点突出的3个支承臂部的上侧设有支承突起,在将硅片载置在上述支承突起上、在热处理炉内进行热处理时,支承突起全部在硅片的同一圆周上、且位于硅片半径的外侧方向85~99.5%的范围内,各支承臂部分别配置成相对于中心点构成120°的角度,由此,使从销迹点进入的位移的自由深度比器件形成区域深,而且,使这样的晶片表面上没有滑动的无滑动区域扩大到最大。
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公开(公告)号:CN1768421A
公开(公告)日:2006-05-03
申请号:CN200480008600.7
申请日:2004-03-30
Applicant: 株式会社上睦可
IPC: H01L21/68 , H01L21/22 , H01L21/324
CPC classification number: F27D5/0037 , F27B17/0025 , H01L21/324 , H01L21/67109 , Y10T279/23
Abstract: 本发明提供一种硅片热处理夹具和热处理方法,在相互隔开间隔地从支承框向中心点突出的3个支承臂部的上侧设有支承突起,在将硅片载置在上述支承突起上、在热处理炉内进行热处理时,支承突起全部在硅片的同一圆周上、且位于硅片半径的外侧方向85~99.5%的范围内,各支承臂部分别配置成相对于中心点构成120°的角度,由此,使从销迹点进入的位移的自由深度比器件形成区域深,而且,使这样的晶片表面上没有滑动的无滑动区域扩大到最大。
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