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公开(公告)号：CN101802952A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200880107286.6
申请日：2008-09-03
Applicant: 松下电工株式会社
CPC classification number: H03K17/9505 , H03K17/9542 , H05K1/147 , H05K1/165 , H05K1/18 , H05K3/3447 , H05K2201/1003 , H05K2201/105
Abstract: 本发明提供一种近程式传感器用的检测部及近程式传感器。其中，近程式传感器用的检测部(1)具备：探测部，其具有一对探测线圈(20)，所述一对探测线圈(20)配置为使中心轴沿着与在规定的移动线路上移动的被检测体的移动方向交叉的方向并且夹入所述移动线路的形状；和电路块(3)，其设置有振荡电路部(31)，所述振荡电路部(31)具有与检测部的探测线圈(20)一起构成LC谐振电路的电容器并使该LC谐振电路振荡。并且，所述近程式传感器的检测部(1)还具备电连接部，所述电连接部由串联连接探测部的探测线圈(20)的第一连接端子(22)及第一导体图案(32)和将探测线圈(20)连接于振荡电路部(31)的第二连接端子(23)及第二导体图案(33)构成。
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公开(公告)号：CN101031779B
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200680000943.8
申请日：2006-05-12
Applicant: 松下电工株式会社
IPC: G01D5/20
Abstract: 一种具有高操作可靠性的小尺寸位置传感器。所述位置传感器包括：管状检测线圈；在所述检测线圈内可移动的磁芯；用于所述检测线圈的驱动电路；信号处理电路，其用于将所述检测线圈的阻抗变化转换成电信号；以及用于引导所述磁芯在所述检测线圈内的运动的引导装置。所述引导装置具有连接至磁芯的引导部分以及用于滑动地支撑所述引导部分的支撑部分。所述引导装置形成为：通过所述引导部分相对于所述支撑部分的滑动，所述磁芯能够在所述检测线圈内平滑地移动而不接触所述检测线圈的内表面。
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公开(公告)号：CN1464972A
公开(公告)日：2003-12-31
申请号：CN02802430.3
申请日：2002-06-28
Applicant: 松下电工株式会社
Inventor： 丹羽正久
IPC: G01D5/20
CPC classification number: G01D3/036 , G01D5/2006 , G01D5/2208
Abstract: 直流电流和交流电流被同时从恒流电路提供给检测线圈。直流电流对交流电流的比、检测部分的阻抗的交流分量对直流分量的比、直流电流对交流电流的比的温度特性、以及检测线圈的阻抗的交流分量对直流分量的比的温度特性中的至少一个用这种方式被设置，使得在所述铁心相对于所述线圈的整个位移区内，从所述检测部分输出的电压的峰值的温度系数的波动范围，小于在所述给定的频率下在相对于所述检测线圈所述铁心的整个位移区内，在所述检测部分中的阻抗的交流分量的温度系数的波动范围。
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公开(公告)号：CN1934412A
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200580008624.7
申请日：2005-06-03
Inventor： 乔斯·马科斯·拉拉亚 , 丹羽正久 , 罗伯特·P·莫克 , 乔斯·G·塔维拉
IPC: G01C19/00
CPC classification number: G01C25/00 , G01D3/022 , G01D18/008
Abstract: 电抗性传感器通常对温度变化表现出非线性响应。公开了一种系统和方法，其用于对电抗性传感器的非线性和/或温度依赖特性进行补偿，并对于测量中的物理参数的关于已知采样的已补偿过的输出信号进行校准。本发明的一种实施例包括包含电抗性传感器的至少一部分的壳体、单片集成电路以及时间基准器。该集成电路包括：波形生成器，其用于产生传感器激励信号；检测器，其用于检测传感器对激励信号和测量中物理参数的组合的响应；温度补偿单元；以及帕德逼近的非线性补偿单元，其中通过利用数字编程的系数对所述温度补偿单元和帕德逼近非线性补偿单元进行调节。该系数对最终输出进行校准以及对非线性和温度敏感性进行补偿。
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公开(公告)号：CN1247961C
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN02802430.3
申请日：2002-06-28
Applicant: 松下电工株式会社
Inventor： 丹羽正久
IPC: G01D5/20
CPC classification number: G01D3/036 , G01D5/2006 , G01D5/2208
Abstract: 直流电流和交流电流被同时从恒流电路提供给检测线圈。直流电流对交流电流的比、检测部分的阻抗的交流分量对直流分量的比、直流电流对交流电流的比的温度特性、以及检测线圈的阻抗的交流分量对直流分量的比的温度特性中的至少一个用这种方式被设置，使得在所述铁心相对于所述线圈的整个位移区内，从所述检测部分输出的电压的峰值的温度系数的波动范围，小于在所述给定的频率下在相对于所述检测线圈所述铁心的整个位移区内，在所述检测部分中的阻抗的交流分量的温度系数的波动范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1697964A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200480000442.0
申请日：2004-04-22
Applicant: 松下电工株式会社
Inventor： 丹羽正久
IPC: G01D5/20
CPC classification number: G01D3/0365 , G01D5/2013
Abstract: 本发明公开了一种位移检测器，该位移检测器可以补偿线圈的阻抗的温度系数相对于磁芯位移变化。该检测器包括：用于输出包含交变电流的恒定电流的恒流源单元；所述恒定电流提供到其上的线圈部分；被支撑以在可动范围内相对于线圈部分可移动的磁芯；及信号处理电路，其用来在将恒定电流提供到线圈部分的条件下根据线圈部分输出电压的变化获得磁芯相对于线圈部分的位移；用于从线圈部分的输出电压中提取特征值(V1)的特征值提取单元；及用来向特征值上加上一个电平移位电压(Vsh)的电平移位电路。在可动范围内特征值(V1)和电平移位电压(Vsh)的总和(V2)的温度系数的波动幅度小于在可动范围内特征值(V1)的温度系数的波动幅度。
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公开(公告)号：CN100473951C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200680000942.3
申请日：2006-05-12
Applicant: 松下电工株式会社
IPC: G01D5/20
Abstract: 本发明提供一种具有优良的线圈阻抗线性度的位置传感器。该位置传感器包括：管状检测线圈；在所述检测线圈内可移动的磁芯；用于检测线圈的驱动电路；用于将所述检测线圈的阻抗变化转换为电信号的信号处理电路；以及环绕所述检测线圈设置的屏蔽构件。所述屏蔽构件是具有第一内表面和第二内表面的管状构件，所述第一内表面环绕所述检测线圈的一轴向区域，所述第二内表面环绕所述检测线圈的另一轴向区域。所述管状构件形成为使得所述第二内表面与所述检测线圈之间的距离小于所述第一内表面与所述检测线圈之间的距离。
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公开(公告)号：CN101311666A
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200810098981.2
申请日：2008-05-26
Applicant: 松下电工株式会社
CPC classification number: G01D5/202
Abstract: 振荡电路输出有与位移检测线圈的感应系数相对应的频率的振荡信号。振荡周期测量电路测量从振荡电路输出的振荡信号的周期，并且输出与所述测量的周期相对应的信号。平方电路计算并且输出振荡周期测量电路输出的信号的平方。通过计算和输出振荡信号的周期的平方，感应系数与电容分量的乘积的平方根分量被消除，因而，输出信号相对位移体的位移线性地变化。结果，输出信号相对于位移体的位移的线性可以被改善。
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公开(公告)号：CN101031779A
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN200680000943.8
申请日：2006-05-12
Applicant: 松下电工株式会社
IPC: G01D5/20
Abstract: 一种具有高操作可靠性的小尺寸位置传感器。所述位置传感器包括：管状检测线圈；在所述检测线圈内可移动的磁芯；用于所述检测线圈的驱动电路；信号处理电路，其用于将所述检测线圈的阻抗变化转换成电信号；以及用于引导所述磁芯在所述检测线圈内的运动的引导装置。所述引导装置具有连接至磁芯的引导部分以及用于滑动地支撑所述引导部分的支撑部分。所述引导装置形成为：通过所述引导部分相对于所述支撑部分的滑动，所述磁芯能够在所述检测线圈内平滑地移动而不接触所述检测线圈的内表面。
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公开(公告)号：CN101031778A
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN200680000942.3
申请日：2006-05-12
Applicant: 松下电工株式会社
IPC: G01D5/20
Abstract: 本发明提供一种具有优良的线圈阻抗线性度的位置传感器。该位置传感器包括：管状检测线圈；在所述检测线圈内可移动的磁芯；用于检测线圈的驱动电路；用于将所述检测线圈的阻抗变化转换为电信号的信号处理电路；以及环绕所述检测线圈设置的屏蔽构件。所述屏蔽构件是具有第一内表面和第二内表面的管状构件，所述第一内表面环绕所述检测线圈的一轴向区域，所述第二内表面环绕所述检测线圈的另一轴向区域。所述管状构件形成为使得所述第二内表面与所述检测线圈之间的距离小于所述第一内表面与所述检测线圈之间的距离。
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