公开(公告)号：CN1934412A

公开(公告)日：2007-03-21

申请号：CN200580008624.7

申请日：2005-06-03

Applicant: AMI半导体公司 ,  松下电工株式会社

Inventor： 乔斯·马科斯·拉拉亚 ,  丹羽正久 ,  罗伯特·P·莫克 ,  乔斯·G·塔维拉

IPC: G01C19/00

CPC classification number: G01C25/00 ,  G01D3/022 ,  G01D18/008

Abstract: 电抗性传感器通常对温度变化表现出非线性响应。公开了一种系统和方法，其用于对电抗性传感器的非线性和/或温度依赖特性进行补偿，并对于测量中的物理参数的关于已知采样的已补偿过的输出信号进行校准。本发明的一种实施例包括包含电抗性传感器的至少一部分的壳体、单片集成电路以及时间基准器。该集成电路包括：波形生成器，其用于产生传感器激励信号；检测器，其用于检测传感器对激励信号和测量中物理参数的组合的响应；温度补偿单元；以及帕德逼近的非线性补偿单元，其中通过利用数字编程的系数对所述温度补偿单元和帕德逼近非线性补偿单元进行调节。该系数对最终输出进行校准以及对非线性和温度敏感性进行补偿。

公开(公告)号：CN1934412B

公开(公告)日：2012-08-15

申请号：CN200580008624.7

申请日：2005-06-03

Applicant: AMI半导体公司 ,  松下电器产业株式会社

Inventor： 乔斯·马科斯·拉拉亚 ,  丹羽正久 ,  罗伯特·P·莫克 ,  乔斯·G·塔维拉

IPC: G01C19/00

CPC classification number: G01C25/00 ,  G01D3/022 ,  G01D18/008

Abstract: 电抗性传感器通常对温度变化表现出非线性响应。公开了一种系统和方法，其用于对电抗性传感器的非线性和/或温度依赖特性进行补偿，并对于测量中的物理参数的关于已知采样的已补偿过的输出信号进行校准。本发明的一种实施例包括包含电抗性传感器的至少一部分的壳体、单片集成电路以及时间基准器。该集成电路包括：波形生成器，其用于产生传感器激励信号；检测器，其用于检测传感器对激励信号和测量中物理参数的组合的响应；温度补偿单元；以及帕德逼近的非线性补偿单元，其中通过利用数字编程的系数对所述温度补偿单元和帕德逼近非线性补偿单元进行调节。该系数对最终输出进行校准以及对非线性和温度敏感性进行补偿。