公开(公告)号：CN1278421C

公开(公告)日：2006-10-04

申请号：CN200310123271.8

申请日：2003-12-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 深津元

IPC: H01L27/00 ,  G11C29/00 ,  G06F11/00

CPC classification number: G11C29/38 ,  G11C2029/3602

Abstract: 在一种利用存储器内置自检过程进行半导体存储器检测的方法中，当难以在一个周期内执行比较时，将管线过程用于期望值比较，在此情况下，为了减少触发器的数量并减少所占的区域，在进行存储器内置自检过程时，共享地使用了管线用触发器以及扫描观测用触发器和/或扫描/控制用触发器。

公开(公告)号：CN1573644A

公开(公告)日：2005-02-02

申请号：CN200410042944.1

申请日：2004-06-04

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 柄谷康治 ,  深津元 ,  岛村秋光

IPC: G06F1/10

CPC classification number: G06F1/10

Abstract: 例如触发器等同步电路单元，一些组成模块，其它保持不组成模块。在根据本发明的半导体集成电路中，向多个不组成模块的同步电路单元的每一个同步电路单元独立提供时钟产生电路，用于时钟输入，以控制时钟时滞，并且实现更低的功耗。时钟产生电路独立地连接到多个功能模块的每一个功能模块，以用于时钟输入，并且这些多个功能模块每一个都包括多个组成模块的同步电路单元。

公开(公告)号：CN1303531C

公开(公告)日：2007-03-07

申请号：CN200410036894.6

申请日：2004-04-21

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 松田源一郎 ,  岛村秋光 ,  深津元

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G06F11/2236 ,  G01R31/318385 ,  G01R31/318392 ,  G01R31/318547

Abstract: 一种半导体设备，包括：其内部具有指令寄存器的处理器；响应测试操作而激活并产生伪随机数的伪随机数发生装置；输入切换装置，用于在正常操作中的数据输入和测试操作中的来自伪随机数发生装置的伪随机数的输入之间切换，从而将数据或伪随机数输出到指令寄存器。将在伪随机数发生装置中产生的伪随机数经过输入切换装置输入指令寄存器，以便执行随机指令，并以与正常操作相同的激活速率来执行随机测试。

公开(公告)号：CN1725225A

公开(公告)日：2006-01-25

申请号：CN200510088200.8

申请日：2005-07-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 西川亮太 ,  深津元

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/505 ,  G06F2217/84

Abstract: 是一种半导体集成电路器件的设计方法。对半导体集成电路器件内路径中的超过所要求的信号传递时间的路径，分离路径使与属于该路径的构成要素的输出连接的其他的构成要素的数量减少。通过这样，提供可以实现提高半导体集成电路器件的性能和速度的设计方法，同时提供与利用现有的EDA工具的自动化设计流程融合，可以进行比现有技术性能更高和速度更快的设计方法。

公开(公告)号：CN1510751A

公开(公告)日：2004-07-07

申请号：CN200310123271.8

申请日：2003-12-23

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 深津元

IPC: H01L27/00 ,  G11C29/00 ,  G06F11/00

CPC classification number: G11C29/38 ,  G11C2029/3602

Abstract: 在一种利用存储器BIST过程进行半导体存储器检测的方法中，当难以在一个周期内执行比较时，将流水线过程用于期望值比较，在此情况下，为了减少触发器的数量并减少所占的区域，在进行存储器BIST过程时，共享地使用了流水线用触发器以及扫描观测用触发器和/或扫描/控制用触发器。

公开(公告)号：CN1540515A

公开(公告)日：2004-10-27

申请号：CN200410036894.6

申请日：2004-04-21

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 松田源一郎 ,  岛村秋光 ,  深津元

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G06F11/2236 ,  G01R31/318385 ,  G01R31/318392 ,  G01R31/318547

Abstract: 一种半导体设备，包括：其内部具有指令寄存器的处理器；响应测试操作而激活并产生伪随机数的伪随机数发生装置；输入切换装置，用于在正常操作中的数据输入和测试操作中的来自伪随机数发生装置的伪随机数的输入之间切换，从而将数据或伪随机数输出到指令寄存器。将在伪随机数发生装置中产生的伪随机数经过输入切换装置输入指令寄存器，以便执行随机指令，并以与正常操作相同的激活速率来执行随机测试。