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公开(公告)号：CN1540515A
公开(公告)日：2004-10-27
申请号：CN200410036894.6
申请日：2004-04-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G06F11/2236 , G01R31/318385 , G01R31/318392 , G01R31/318547
Abstract: 一种半导体设备，包括：其内部具有指令寄存器的处理器；响应测试操作而激活并产生伪随机数的伪随机数发生装置；输入切换装置，用于在正常操作中的数据输入和测试操作中的来自伪随机数发生装置的伪随机数的输入之间切换，从而将数据或伪随机数输出到指令寄存器。将在伪随机数发生装置中产生的伪随机数经过输入切换装置输入指令寄存器，以便执行随机指令，并以与正常操作相同的激活速率来执行随机测试。
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公开(公告)号：CN100381974C
公开(公告)日：2008-04-16
申请号：CN200310118317.7
申请日：2003-11-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F1/32
CPC classification number: H01L23/5286 , H01L24/06 , H01L2224/05554 , H01L2924/14 , H01L2924/00
Abstract: 本发明的半导体集成电路装置，具有包含多个构成要素(101e～120e)的电路块(1C)，从分别供给电压(VDD1～VDD4)的电源(11～14)，向多个构成要素(101e～120e)的至少一个供给与其它构成要素不同值的电压。能实现降低电能消耗。
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公开(公告)号：CN1501213A
公开(公告)日：2004-06-02
申请号：CN200310118317.7
申请日：2003-11-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F1/32
CPC classification number: H01L23/5286 , H01L24/06 , H01L2224/05554 , H01L2924/14 , H01L2924/00
Abstract: 本发明的半导体集成电路装置，具有包含多个构成要素(101e～120e)的电路块(1C)，从分别供给电压(VDD1～VDD4)的电源(11～14)，向多个构成要素(101e～120e)的至少一个供给与其它构成要素不同值的电压。能实现降低电能消耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1303531C
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN200410036894.6
申请日：2004-04-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G06F11/2236 , G01R31/318385 , G01R31/318392 , G01R31/318547
Abstract: 一种半导体设备，包括：其内部具有指令寄存器的处理器；响应测试操作而激活并产生伪随机数的伪随机数发生装置；输入切换装置，用于在正常操作中的数据输入和测试操作中的来自伪随机数发生装置的伪随机数的输入之间切换，从而将数据或伪随机数输出到指令寄存器。将在伪随机数发生装置中产生的伪随机数经过输入切换装置输入指令寄存器，以便执行随机指令，并以与正常操作相同的激活速率来执行随机测试。
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公开(公告)号：CN1595187A
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN200410073743.8
申请日：2004-09-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 岛村秋光
CPC classification number: G06F17/5031 , G01R31/318583
Abstract: 一种半导体装置的测试方法，包括：将半导体装置中的区域划分为多个分隔区域；提取各个分隔区域中从寄存器到其它寄存器的所有路径作为候选路径；计算候选路径的信号传输的延迟时间，选择各分隔区域中延迟时间最大的候选路径作为关键路径；对各分隔区域中的关键路径进行延迟测试。从而可以准确地筛选半导体装置。
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公开(公告)号：CN1259624C
公开(公告)日：2006-06-14
申请号：CN03145245.0
申请日：2003-06-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 岛村秋光
IPC: G06F12/02
CPC classification number: G06F9/3804 , G06F9/30058 , G11C7/1006 , G11C8/00
Abstract: 本发明目的在于提供能够防止因产生以往那样的无用执行周期而引起的处理性能下降的半导体装置。本发明在用IFB 2进行读取处理时，根据来自EXB 4的分支成立信号(BRTKN 9)的状态，在条件分支成立时选择分支目的地地址，在条件分支不成立时选择下一个指令的地址，提供给指令存储器(1)，通过这样在IFB 2控制与这些地址对应的读取处理的执行。
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公开(公告)号：CN1573644A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN200410042944.1
申请日：2004-06-04
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G06F1/10
CPC classification number: G06F1/10
Abstract: 例如触发器等同步电路单元，一些组成模块，其它保持不组成模块。在根据本发明的半导体集成电路中，向多个不组成模块的同步电路单元的每一个同步电路单元独立提供时钟产生电路，用于时钟输入，以控制时钟时滞，并且实现更低的功耗。时钟产生电路独立地连接到多个功能模块的每一个功能模块，以用于时钟输入，并且这些多个功能模块每一个都包括多个组成模块的同步电路单元。
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公开(公告)号：CN1470994A
公开(公告)日：2004-01-28
申请号：CN03145245.0
申请日：2003-06-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 岛村秋光
IPC: G06F12/02
CPC classification number: G06F9/3804 , G06F9/30058 , G11C7/1006 , G11C8/00
Abstract: 本发明目的在于提供能够防止因产生以往那样的无用执行周期而引起的处理性能下降的半导体装置。本发明在用IFB 2进行读取处理时，根据来自EXB 4的分支成立信号(BRTKN 9)的状态，在条件分支成立时选择分支目的地地址，在条件分支不成立时选择下一个指令的地址，提供给指令存储器(1)，通过这样在IFB 2控制与这些地址对应的读取处理的执行。
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