磁编码器装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101936749A

    公开(公告)日:2011-01-05

    申请号:CN201010260902.0

    申请日:2007-03-05

    CPC classification number: G01D5/145 G01D5/2451 Y10T29/49002 Y10T29/49826

    Abstract: 提供一种即使磁传感器装置与磁尺的间隙尺寸变化、也能够得到高的检测精度的磁编码器装置(100),在该磁编码器装置(100)中,磁传感器装置(10)以饱和灵敏度区域以上的磁场强度检测磁尺(9)表面的旋转磁场,并检测磁尺(9)的移动位置。在磁传感器装置(10)中,+a相磁阻图形25(+a)、-a相磁阻图形25(-a)、+b相磁阻图形25(+b)、以及-b相磁阻图形25(-b),呈格子状配置在1块刚性基板10的同一面上,+a相磁阻图形25(+a)与-a相磁阻图形25(-a)形成于对角的位置,+b相磁阻图形25(+b)与-b相磁阻图形25(-b)形成于对角的位置。

    磁阻元件
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100440565C

    公开(公告)日:2008-12-03

    申请号:CN200510106391.6

    申请日:2005-09-19

    CPC classification number: G01D5/145 G01R33/09 H01L43/08

    Abstract: 本发明提供一种即使在使用多个磁阻体薄膜时制造工序也不需要极高的精度且可提高磁阻体薄膜的布局自由度的磁阻元件。将在由陶瓷釉基板构成的第1基板(111)上形成A相磁阻图案(112)的第1磁阻元件基板(11)和在由透明的玻璃基板构成的第2基板(121)上形成B相磁阻图案(122)的第2磁阻元件基板(12)通过UV固化粘结剂粘合,从而制造磁阻元件(10)。在此,因为第2基板(121)为透明基板,所以通过第2基板(121)可进行第1磁阻元件基板(11)和第2磁阻元件基板(12)的定位,并且,通过第2基板(121)可将UV光照射在UV固化粘结剂上。

    磁编码器装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101395450B

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN200780007631.4

    申请日:2007-03-05

    CPC classification number: G01D5/145 G01D5/2451 Y10T29/49002 Y10T29/49826

    Abstract: 提供一种即使磁传感器装置与磁尺的间隙尺寸变化、也能够得到高的检测精度的磁编码器装置(100),在该磁编码器装置(100)中,磁传感器装置(10)以饱和灵敏度区域以上的磁场强度检测磁尺(9)表面的旋转磁场,并检测磁尺(9)的移动位置。在磁传感器装置(10)中,+a相磁阻图形25(+a)、-a相磁阻图形25(-a)、+b相磁阻图形25(+b)、以及-b相磁阻图形25(-b),呈格子状配置在1块刚性基板10的同一面上,+a相磁阻图形25(+a)与-a相磁阻图形25(-a)形成于对角的位置,+b相磁阻图形25(+b)与-b相磁阻图形25(-b)形成于对角的位置。

    磁尺的制造方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101936750A

    公开(公告)日:2011-01-05

    申请号:CN201010260912.4

    申请日:2007-03-05

    CPC classification number: G01D5/145 G01D5/2451 Y10T29/49002 Y10T29/49826

    Abstract: 提供一种磁尺的制造方法和一种即使磁传感器装置与磁尺的间隙尺寸变化、也能够得到高的检测精度的磁编码器装置(100),在该磁编码器装置(100)中,磁传感器装置(10)以饱和灵敏度区域以上的磁场强度检测磁尺(9)表面的旋转磁场,并检测磁尺(9)的移动位置。在磁传感器装置(10)中,+a相磁阻图形25(+a)、-a相磁阻图形25(-a)、+b相磁阻图形25(+b)、以及-b相磁阻图形25(-b),呈格子状配置在1块刚性基板10的同一面上,+a相磁阻图形25(+a)与-a相磁阻图形25(-a)形成于对角的位置,+b相磁阻图形25(+b)与-b相磁阻图形25(-b)形成于对角的位置。

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