离子注入装置以及离子注入方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119069327A

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202410296076.7

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明提供离子注入装置以及离子注入方法,对装置各部分的控制进行优化,对晶片以所希望的角度高精度地实现离子注入处理。离子注入装置(IM)具备:角度测量器(11、12、60、70、80),在与离子束(IB)的行进方向相互正交的第一方向和第二方向上测量离子束(IB)的角度;角度修正器(7),配置在射束线上,根据角度测量器的测量结果,修正第一方向上的离子束的角度;晶片保持装置(9),在处理室(8)保持晶片(W);倾斜机构(L),与晶片保持装置(9)连结,使晶片(W)绕与第一方向平行的旋转轴旋转;控制装置(C2),根据第二方向上的离子束的角度信息(V)、晶片(W)的晶轴信息(M)和注入配方信息(R),控制倾斜机构(L)。

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