公开(公告)号：CN119740535A

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202411574942.0

申请日：2024-11-06

Applicant: 扬州大学

Inventor： 曹荣幸 ,  曹小雪 ,  薛玉雄 ,  田佳玉 ,  张涛 ,  许灝炀 ,  刘汇龙 ,  曾祥华

IPC: G06F30/367 ,  G06F30/373 ,  G06F30/25

Abstract: 本发明公开了一种逐次逼近型模数转换器的单粒子效应模拟方法，利用TCAD及SPICE相结合的方法，通过TCAD模拟仿真获得器件的电学曲线数据提取为库文件，SPICE调用该库文件并进行电路建模，可以实现ADC器件单粒子效应的模拟，可以得到不同LET、不同角度下，单粒子效应对ADC器件输出的影响情况，深入揭示单粒子效应的故障传播规律。解决了ADC器件辐射实验加速器资源有限、经济成本高、测试方法设计复杂等问题，为开展模数转换器抗辐射评价和加固设计提供技术支撑。