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公开(公告)号：CN119940071A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202411769533.6
申请日：2024-12-04
Applicant: 扬州大学
IPC: G06F30/27 , G06F30/10 , G06N3/0499 , G06N3/084 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了辐射环境下预测微系统互连产品的信号传输能力的方法，涉及电子工程、辐射影响分析和机器学习技术领域。本发明解决微系统器件在辐射环境下信号完整性受到影响的问题，通过对不同器件在辐射作用下的响应进行系统化分析与建模，以有效评估和预测各种微系统器件在辐射条件下的性能变化。这将有助于提升微系统器件在辐射环境中的可靠性，确保其在关键应用中的正常运作。
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