半导体晶片和半导体器件的制造工艺

    公开(公告)号:CN100385628C

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200510079519.4

    申请日:2005-06-22

    Abstract: 根据本发明的半导体晶片(1),包括:在两个相互垂直的方向上的第一划片线(31),其具有第一宽度并将半导体晶片(1)分成多个区域;第二划片线(32),其具有比第一宽度小的第二宽度并将区域分成多个半导体芯片区(2);沿着半导体芯片区(2)的边缘形成的电极焊盘(5);以及设置在划片线中的含金属的辅助图案(4)。在第二划片线(32)中,在与芯片区(2)中具有电极焊盘(5)的边缘相邻的区域中的至少最外表面中不存在辅助图案(4)。

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