VI族前驱物化合物
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113490764B

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202080017228.5

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明提供用于制备各种VI族前驱物化合物的简便方法,所述VI族前驱物化合物可用于将这类VI族金属气相沉积于固体衬底、尤其微电子半导体装置衬底上。所述方法提供获得这类挥发性材料的有效手段,然后所述挥发性材料可作为要沉积于所述衬底上的含钼、铬或钨的材料的来源。另外,本发明提供用于将所述化合物气相沉积于微电子装置衬底上的方法。

    氧卤化物前驱物
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119079932A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202411181682.0

    申请日:2020-07-08

    Abstract: 本发明提供一种氧卤化物前驱物。本发明提供一种制备钼和钨氧卤化物化合物的方法,所述氧卤化物化合物适用于将含有钼和钨的薄膜沉积于微电子装置的各个表面上。在本发明方法中,在固态介质中或在包含有包含碱金属盐和/或碱土金属盐的共晶掺合物的熔融相反应中加热三氧化钼或三氧化钨。由此形成的钼或钨氧卤化物可以蒸气形式分离且结晶以提供高纯性前驱物化合物,例如MoO2Cl2。

    氧卤化物前驱物
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114174216B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202080054603.3

    申请日:2020-07-08

    Abstract: 本发明提供一种制备钼和钨氧卤化物化合物的方法,所述氧卤化物化合物适用于将含有钼和钨的薄膜沉积于微电子装置的各个表面上。在本发明方法中,在固态介质中或在包含有包含碱金属盐和/或碱土金属盐的共晶掺合物的熔融相反应中加热三氧化钼或三氧化钨。由此形成的钼或钨氧卤化物可以蒸气形式分离且结晶以提供高纯性前驱物化合物,例如MoO2Cl2。

    氧卤化物前驱物
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114174216A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202080054603.3

    申请日:2020-07-08

    Abstract: 本发明提供一种制备钼和钨氧卤化物化合物的方法,所述氧卤化物化合物适用于将含有钼和钨的薄膜沉积于微电子装置的各个表面上。在本发明方法中,在固态介质中或在包含有包含碱金属盐和/或碱土金属盐的共晶掺合物的熔融相反应中加热三氧化钼或三氧化钨。由此形成的钼或钨氧卤化物可以蒸气形式分离且结晶以提供高纯性前驱物化合物,例如MoO2Cl2。

    VI族前驱物化合物
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113490764A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202080017228.5

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明提供用于制备各种VI族前驱物化合物的简便方法,所述VI族前驱物化合物可用于将这类VI族金属气相沉积于固体衬底、尤其微电子半导体装置衬底上。所述方法提供获得这类挥发性材料的有效手段,然后所述挥发性材料可作为要沉积于所述衬底上的含钼、铬或钨的材料的来源。另外,本发明提供用于将所述化合物气相沉积于微电子装置衬底上的方法。

Patent Agency Ranking