离子注入系统及方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105702547B

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN201610048444.1

    申请日:2010-10-25

    Abstract: 一种离子注入系统及方法,提供掺杂气体馈送线路中掺杂气体的冷却,以对抗由于电弧腔室生成的热量而造成掺杂气体的加热与分解,例如使用诸如B2F4的硼源材料,或其它BF3的替代物。在此描述了各种电弧腔室热管理的设置,以及等离子体特性的改变、特定流动设置、清洗处理过程、功率管理、平衡偏移、提取光学器件的最优化、流动通道中的沉积物的探测,以及源寿命的最优化,以实现离子注入系统的有效操作。

    富集硅的前体组合物及使用其的设备和方法

    公开(公告)号:CN105431927A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201480029840.9

    申请日:2014-05-21

    CPC classification number: H01L21/26506 H01J37/08 H01J37/3171 H01J2237/006

    Abstract: 公开了同位素富集的硅前体组合物,相对于缺乏该同位素富集的硅前体组合物的相应离子注入,其用在离子注入中以提高离子注入系统性能。该硅掺杂组合物包括至少一种硅化合物,并且可包括含有同种气体和稀释气体中至少一种的补充气体,所述至少一种硅化合物以28Si、29Si和30Si中的至少一种同位素富集至天然丰度以上。公开了用于将硅掺杂组合物提供至离子注入机的掺杂气体供应设备,以及包括掺杂气体供应设备的离子注入系统。

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