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公开(公告)号:CN112509621A
公开(公告)日:2021-03-16
申请号:CN202011377385.5
申请日:2020-11-30
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , G11C11/419
Abstract: 本发明公开了一种MOSFET‑TFET混合型11T SRAM单元电路,包括五个NTFET晶体管,四个PTFET晶体管,两个NMOSFET晶体管,其中:电源VDD和PTFET晶体管P3的源极电连接;PTFET晶体管P3的漏极与PFET晶体管P1的源极电连接;PTFET晶体管P2的漏极分别与NTFET晶体管N2的漏极、NMOSFET晶体管N4的漏极、PTFET晶体管P1的栅极、NTFET晶体管N1的栅极、NTFET晶体管N6的栅极电连接;NTFET晶体管N5的源极、NTFET晶体管N6的源极均与GND电连接。上述电路不仅增强了SRAM单元的写能力,而且降低了电路的静态功耗,提高了保持状态下SRAM单元的稳定性。