一种14T抗辐照静态存储单元

    公开(公告)号:CN108492843A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201810300515.1

    申请日:2018-04-04

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种14T抗辐照静态存储单元,能够提高抗SEU能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了功耗。在读写阶段,WL信号为高电平。当电路处于写阶段时,如果BL为高电平,BLB为低电平,那么通过差分输入晶体管N4和N5向存储节点Q点写‘1’;如果BL为低电平,BLB为高电平,那么通过差分输入晶体管N4和N5向存储节点Q点写‘0’。当电路处于读阶段时,BL和BLB都为高电平,如果该单元电路存储的数据为‘1’,那么BLB通过晶体管N4和N0向地放电,使得位线产生电压差,然后通过灵敏放大器读出数据;如果该单元电路存储的数据为‘0’,那么BL通过晶体管N5和N1向地放电,使得产生位线电压差,然后通过灵敏放大器读出数据。

    一种14T抗辐照静态存储单元

    公开(公告)号:CN108492843B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201810300515.1

    申请日:2018-04-04

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种14T抗辐照静态存储单元,能够提高抗SEU能力,可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度,并且降低了功耗。在读写阶段,WL信号为高电平。当电路处于写阶段时,如果BL为高电平,BLB为低电平,那么通过差分输入晶体管N4和N5向存储节点Q点写‘1’;如果BL为低电平,BLB为高电平,那么通过差分输入晶体管N4和N5向存储节点Q点写‘0’。当电路处于读阶段时,BL和BLB都为高电平,如果该单元电路存储的数据为‘1’,那么BLB通过晶体管N4和N0向地放电,使得位线产生电压差,然后通过灵敏放大器读出数据;如果该单元电路存储的数据为‘0’,那么BL通过晶体管N5和N1向地放电,使得产生位线电压差,然后通过灵敏放大器读出数据。

    平均7T1R的非易失性静态随机存储单元

    公开(公告)号:CN107492393B

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201710590872.1

    申请日:2017-07-19

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种平均7T1R的非易失性静态随机存储单元,在读数据阶段,列共享开关晶体管SN打开,调节优化差分输入晶体管的尺寸,有利于单元读操作,提高读裕度;在写入数据阶段,字线WL为高电平,第一与第二差分输入晶体管打开,控制线RSW为低电平,晶体管RSWL关断,单元控制线CTRL为低电平,列共享开关晶体管SN关断,打断了单元的放电路径,单元内部节点更容易充电,使得单元的写能力增强,写裕度增加;在恢复数据阶段,将列共享开关晶体管SN关断,没有泄露路径,因而减少了泄露电流,降低了恢复数据时的功耗;由于电路的恢复操作就相当于对电路写数据,所以关断SN可以提高电路的写能力,自然也就提高了电路的恢复数据的能力,减少了恢复时所需的时间。

    平均7T1R的非易失性静态随机存储单元

    公开(公告)号:CN107492393A

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201710590872.1

    申请日:2017-07-19

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种平均7T1R的非易失性静态随机存储单元,在读数据阶段,列共享开关晶体管SN打开,调节优化差分输入晶体管的尺寸,有利于单元读操作,提高读裕度;在写入数据阶段,字线WL为高电平,第一与第二差分输入晶体管打开,控制线RSW为低电平,晶体管RSWL关断,单元控制线CTRL为低电平,列共享开关晶体管SN关断,打断了单元的放电路径,单元内部节点更容易充电,使得单元的写能力增强,写裕度增加;在恢复数据阶段,将列共享开关晶体管SN关断,没有泄露路径,因而减少了泄露电流,降低了恢复数据时的功耗;由于电路的恢复操作就相当于对电路写数据,所以关断SN可以提高电路的写能力,自然也就提高了电路的恢复数据的能力,减少了恢复时所需的时间。

Patent Agency Ranking