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公开(公告)号：CN105675258B
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610008795.X
申请日：2016-01-04
Applicant: 安徽大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及高双折射光纤参数测量领域，具体为一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。现有的拍长测量方法，计算结果依赖的测量参量均较多，导致计算结果误差较大。为解决上述问题，本发明提供一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。测量方法步骤如下：A.测量待测高双折射光纤的长度L；B.搭建以高双折射光纤快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪；C.获得干涉光谱，采集相邻两个极值的波长，计算出极值波长所对应的干涉级数N；D.根据拍长计算公式计算出不同极值波长下的拍长。本发明所述的测量方法，依赖参量少，测量误差小，测量精度高。本发明提供的测量装置，结构简单，易于实现。
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公开(公告)号：CN105486425A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201610023488.9
申请日：2016-01-12
Applicant: 安徽大学
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32
Abstract: 本发明涉及光纤温度传感技术领域，具体为一种大量程的温度绝对值测量方法及测量装置。现有的光纤干涉型温度传感器，无法测量温度的绝对值，测温范围窄。针对上述问题，本发明公开一种大量程的温度绝对值测量方法，利用高双折射光纤的双折射和长度与外界温度的关系，建立关系式其中T表示外界温度，a、b表示待定系数，表示某参考波长λ0经过高双折射光纤快轴和慢轴时所产生的相位差且B表示高双折射光纤的双折射，L表示高双折射光纤的长度，λN表示任一极值波长，N表示任一极值波长λN所对应的干涉级数，制作装置时或者首次测量前，获取不同温度下的干涉光谱，对a、b进行标定，实际测量时，获取任意波长范围内的干涉光谱，利用公式即可计算出待测温度的绝对值。
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公开(公告)号：CN117207244A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311290189.8
申请日：2023-10-08
Applicant: 安徽大学
IPC: B25J19/00
Abstract: 本发明涉及微纳制造技术领域，更具体的，涉及一种螺旋微纳机器人的高效制备系统、方法。本发明公开了螺旋微纳机器人的高效制备系统，包括：光场发生装置、加工平台、控制装置。本发明基于光束调制器加载旋转相位图的方式，调控飞秒激光生成旋转线状光场，并将旋转线状光场入射到涂有光刻胶的待加工样品上，控制旋转线状光场高频曝光、并同步使待加工样品沿着旋转线状光场入射方向匀速移动，可以快速加工出螺旋微纳机器人。本发明将本来需要单点扫描才能完成的加工替换成面曝光加工，大大提高了加工效率。本发明解决了现有的激光直写法加工效率低的问题。
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公开(公告)号：CN105005133B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201510344751.X
申请日：2015-06-19
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明提供一种笼式球型分体式反射镜万向调整结构，包括反射镜固定组件、万向调节组件，反射镜固定组件固定需要调节的反射镜，万向调节组件固定在反射镜固定组件上，所述反射镜固定组件和万向调节组件为分体结构。本发明的优点在于：将调节组件与反射镜固定组件分体设计，反射镜位置调整完毕后，调节组件即可拆除，同一调整结构调节组件可共用，体积小、结构紧凑、成本低。
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公开(公告)号：CN105005133A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201510344751.X
申请日：2015-06-19
Applicant: 安徽大学
CPC classification number: G02B7/182
Abstract: 本发明提供一种笼式球型分体式反射镜万向调整结构，包括反射镜固定组件、万向调节组件，反射镜固定组件固定需要调节的反射镜，万向调节组件固定在反射镜固定组件上，所述反射镜固定组件和万向调节组件为分体结构。本发明的优点在于：将调节组件与反射镜固定组件分体设计，反射镜位置调整完毕后，调节组件即可拆除，同一调整结构调节组件可共用，体积小、结构紧凑、成本低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102360685A
公开(公告)日：2012-02-22
申请号：CN201110220906.0
申请日：2011-08-03
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明公开了一种微螺旋线圈及其制作方法，其特征是在圆柱状芯材的表面由内向外依次设置为内导热绝缘层，螺旋线圈层和外导热绝缘层。本发明是在圆柱状芯体的表面进行半导体微加工工艺制作微螺旋线圈，能实现具有不同线圈直径，高密度匝数，无需基板支持，可灵活移动的微螺旋线圈；微螺旋线圈中磁场均匀，且磁场方向的一致性好；线圈具有良好的散热特性。
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公开(公告)号：CN105486425B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201610023488.9
申请日：2016-01-12
Applicant: 安徽大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 本发明涉及光纤温度传感技术领域，具体为一种温度绝对值测量方法及测量装置。现有的光纤干涉型温度传感器，无法测量温度的绝对值，测温范围窄。针对上述问题，本发明公开一种温度绝对值测量方法，利用高双折射光纤的双折射和长度与外界温度的关系，建立关系式其中T表示外界温度，a、b表示待定系数，表示某参考波长λ0经过高双折射光纤快轴和慢轴时所产生的相位差且B表示高双折射光纤的双折射，L表示高双折射光纤的长度，λN表示任一极值波长，N表示任一极值波长λN所对应的干涉级数，制作装置时或者首次测量前，获取不同温度下的干涉光谱，对a、b进行标定，实际测量时，获取任意波长范围内的干涉光谱，利用公式即可计算出待测温度的绝对值。
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公开(公告)号：CN105675258A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610008795.X
申请日：2016-01-04
Applicant: 安徽大学
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/331
Abstract: 本发明涉及高双折射光纤参数测量领域，具体为一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。现有的拍长测量方法，计算结果依赖的测量参量均较多，导致计算结果误差较大。为解决上述问题，本发明提供一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。测量方法步骤如下：A.测量待测高双折射光纤的长度L；B.搭建以高双折射光纤快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪；C.获得干涉光谱，采集相邻两个极值的波长，计算出极值波长所对应的干涉级数N；D.根据拍长计算公式计算出不同极值波长下的拍长。本发明所述的测量方法，依赖参量少，测量误差小，测量精度高。本发明提供的测量装置，结构简单，易于实现。
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公开(公告)号：CN117348355A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311290124.3
申请日：2023-10-08
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及微纳制造技术领域，更具体的，涉及一种基于线状光场加工高长宽比微结构的加工方法、系统。本发明预先搭建光场发生装置，并生成线状光场；再将线状光场垂直入射到涂有光刻胶的待加工样品上，然后控制线状光场完成至少一次曝光，即可在垂直入射处加工出高长宽比微结构。本发明基于光束调制器加载相位图的方式，调控飞秒激光生成线状光场，并将线状光场入射到涂有光刻胶的待加工样品上，只需要单次曝光就可以加工高长宽比微结构；另外，配合待加工样品按需移动，还可以在待加工样品面上制造出复杂分布的高长宽比微结构；本发明的加工效率高、操作简单，不需要复杂的工序和昂贵的刻蚀设备。
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公开(公告)号：CN204717258U
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201520408744.7
申请日：2015-06-12
Applicant: 安徽大学
IPC: F16M11/04
Abstract: 本实用新型提供一种侧挂式重载云台，包括水平旋转台(1)、竖直旋转台(2)、转台连接件(3)、侧摆板(4)，所述竖直旋转台(2)通过转台连接件(3)在水平面可旋转的安装于水平旋转台(1)上，侧摆板(4)在竖直面可旋转的固定安装于竖直旋转台(2)上，侧摆板(4)上装载物体，所述转台连接件(3)的底部两侧各有一个补偿轴承(32)，补偿轴承(32)外侧滚动面连线与侧摆板(4)底部弧形面接触。本实用新型的优点在于：通过补偿和稳定装置的设计，提高了普通侧载云台的载重能力，解决了侧载云台在重载情况下轴向倾覆力矩对涡轮、蜗杆及云台的损坏和变形的危险，且结构简单，体积较小，加工装配成本低，具有很好的推广使用价值。
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