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公开(公告)号：CN118999361B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411487240.9
申请日：2024-10-24
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种大长径比小径深孔非接触式形状公差在机测量装置及方法，属于小径深孔零件几何公差测量技术领域。包括深孔轮廓光学测量单元、光数信号转换单元及形状公差测量单元；所述深孔轮廓光学测量单元包括激光测量进给组件、磁力装夹单元和激光线扫描设备；所述光数信号转换单元包括电源、控制器、数据采集器；所述形状公差测量单元为电脑端的信号处理系统，包括圆度拟合模块、直线度拟合模块、圆柱度拟合模块，能够实现高质量点云数据获取及形状公差的计算。所设计的非接触式在机测量进给组件采用激光测量原理，极大避免对深孔表面质量的接触损伤。本发明适用于内径30mm‑40mm小径深孔的测量，属于完全非接触式测量装置，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN103820844B
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201410072968.5
申请日：2014-03-03
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种细长弯管内表面电解抛光用工具电极，属于机械精密加工领域。包括抛光球（1），绝缘支撑球（2），接线架（3），电源线（4），紧固螺柱（5），包络球（6），连接杆（7）；其特征是抛光球（2）通过连接杆（7）连接呈球链结构，球链两端的抛光球（1）固定在包络球（6）内，接线架（3）通过紧固螺柱（5）固定在包络球（6）上，电源线（4）固定在接线架（3）上，绝缘支撑球（2）通过包络球接触面（8）固定包络球（6）；通过改变抛光球连接孔孔径a，连接杆直径b，抛光球间距c与抛光球个数适应不同曲率半径弯管；绝缘支撑球（5）设有螺旋沟槽（9）。本发明的效果和益处是实现细长弯管内表面的电解抛光加工。
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公开(公告)号：CN103820844A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410072968.5
申请日：2014-03-03
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种细长弯管内表面电解抛光用工具电极，属于机械精密加工领域。包括抛光球（1），绝缘支撑球（2），接线架（3），电源线（4），紧固螺柱（5），包络球（6），连接杆（7）；其特征是抛光球（2）通过连接杆（7）连接呈球链结构，球链两端的抛光球（1）固定在包络球（6）内，接线架（3）通过紧固螺柱（5）固定在包络球（6）上，电源线（4）固定在接线架（3）上，绝缘支撑球（2）通过包络球接触面（8）固定包络球（6）；通过改变抛光球连接孔孔径a，连接杆直径b，抛光球间距c与抛光球个数适应不同曲率半径弯管；绝缘支撑球（5）设有螺旋沟槽（9）。本发明的效果和益处是实现细长弯管内表面的电解抛光加工。
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公开(公告)号：CN118999361A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411487240.9
申请日：2024-10-24
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种大长径比小径深孔非接触式形状公差在机测量装置及方法，属于小径深孔零件几何公差测量技术领域。包括深孔轮廓光学测量单元、光数信号转换单元及形状公差测量单元；所述深孔轮廓光学测量单元包括激光测量进给组件、磁力装夹单元和激光线扫描设备；所述光数信号转换单元包括电源、控制器、数据采集器；所述形状公差测量单元为电脑端的信号处理系统，包括圆度拟合模块、直线度拟合模块、圆柱度拟合模块，能够实现高质量点云数据获取及形状公差的计算。所设计的非接触式在机测量进给组件采用激光测量原理，极大避免对深孔表面质量的接触损伤。本发明适用于内径30mm‑40mm小径深孔的测量，属于完全非接触式测量装置，具有广阔的应用前景。
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