基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估系统

    公开(公告)号:CN114694836B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202011608963.1

    申请日:2020-12-30

    Abstract: 本申请涉及一种基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估系统,包括随访评估子系统;所述随访评估子系统包括术前病人随访评估模块和/或术后病人随访评估模块;所述术前病人随访评估模块包括如下子模块:第一信息收集模块:采集术前病人信息数据,并将采集到的术前病人信息数据发送至第一风险处理模块;本申请提供的基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估方法及随访系统可以有效地、精准地对患者进行术前淋巴结转移风险的评估;本申请提供的基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估方法及随访系统能够更有效的指导病人术后的规范化诊疗。

    一种基于多目标贝叶斯优化的模拟电路多目标优化设计方法

    公开(公告)号:CN109960834A

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201711422893.9

    申请日:2017-12-25

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属集成电路设计中模拟电路参数自动优化设计领域,具体涉及一种基于高斯过程模型的多目标贝叶斯优化方法。本发明方法在每次迭代中,对每个性能指标构建高斯过程模型,进而构建低置信区间函数,通过对低置信区间函数的多目标优化选择下一次进行电路仿真的点。相对目前国际上的主流方法,本发明方法能大幅减小电路仿真次数,获得高精度的帕累托前沿。

    一种考虑抛光液影响的特征尺寸级化学机械抛光工艺仿真方法

    公开(公告)号:CN105320782B

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201410268380.7

    申请日:2014-06-16

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属半导体可制造性设计领域,具体涉及一种考虑研磨液影响的特征尺寸级化学机械抛光工艺仿真方法,该方法采用微小粒子表征化学机械抛光中的工艺材料,用NS流体力学方程表述粒子间相互作用,通过光滑化粒子流体动力学方法进行计算获得抛光仿真结果。本发明不依赖经验模型,只需根据工艺材料参数即可完成仿真,具有普适性强的优点。同时,仿真过程模拟抛光垫、抛光液、抛光颗粒与硅片之间实际物理过程,精度高。本发明可以对各类工艺条件进行有效仿真,为化学机械抛光工艺流程优化提供有效参考。

    一种结合边界积分方程方法和随机法的平面边界面电荷密度提取方法

    公开(公告)号:CN104376135A

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201310354674.7

    申请日:2013-08-14

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 严昌浩 曾璇 蔡伟

    Abstract: 本发明属集成电路计算机辅助设计/电子设计自动化领域,具体涉及集成电路寄生参数提取方向中一种结合边界积分方程和随机法的互连线或介质平面边界上面电荷密度提取方法。该方法中,以边界上待求点为球心构造一个半球体,与区域边界相交为一个平面圆盘,将待求点处的面电荷密度转化为由半球面和平面圆盘构成的封闭曲面上的积分。本方法为局部性解法,可提取局部边界上的面电荷密度,而无需对互连线和介质边界表面进行离散;并具有随机法天然并行性的优势,易于实现大规模并行计算。

    基于改进自适应随机配置法的统计时序分析方法及装置

    公开(公告)号:CN102054090A

    公开(公告)日:2011-05-11

    申请号:CN201010511525.3

    申请日:2010-10-19

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及一种统计静态时序分析方法。该方法基于改进的嵌套式稀疏网格积分法的自适应随机配置法MASCM来求解统计静态时序分析方法中的MAX逼近问题。在MASCM中,将MAX逼近按照输入端情况分为两类:线性输入条件和非线性输入条件。在线性输入条件下,MASCM选择具有最大均值的那个输入端作为MAX的输出。在非线性输入条件下,MASCM利用改进的嵌套式稀疏网格积分法来计算正交多项式展开系数。改进的嵌套式稀疏网格积分法提高了随机配置法中积分点的利用率,在保证积分精度的同时,减少了配置点的个数,降低了统计静态时序分析中的计算时间。本发明提出的MASCM方法具有与现有方法相当的计算精度,但所需要的积分点个数以及计算时间都大大降低。

    基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估系统

    公开(公告)号:CN114694836A

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202011608963.1

    申请日:2020-12-30

    Abstract: 本申请涉及一种基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估系统,包括随访评估子系统;所述随访评估子系统包括术前病人随访评估模块和/或术后病人随访评估模块;所述术前病人随访评估模块包括如下子模块:第一信息收集模块:采集术前病人信息数据,并将采集到的术前病人信息数据发送至第一风险处理模块;本申请提供的基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估方法及随访系统可以有效地、精准地对患者进行术前淋巴结转移风险的评估;本申请提供的基于甲状腺癌淋巴结转移预测模型的评估方法及随访系统能够更有效的指导病人术后的规范化诊疗。

    一种提高计算平面边界面电荷密度精度的方法

    公开(公告)号:CN114519314A

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:CN202011312648.4

    申请日:2020-11-20

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 严昌浩 曾璇 蔡伟

    Abstract: 本发明属集成电路计算机辅助设计/电子设计自动化领域,具体涉及集成电路寄生参数提取方向中一种提高边界积分方程和随机混合法求解导体或介质平面边界面电荷密度的精度的方法。本方法以边界上待求点为球心构造一个半球体,与区域边界相交为一个平面圆盘,应用球面Green函数的第二类边界积分方程进行求解,将待求点处的面电荷密度转化为由半球面和平面圆盘构成的封闭曲面上的积分。本发明属一种局部性解法,可高精度计算局部边界上的面电荷密度,无需对互连线和介质边界表面进行离散;并具有随机法天然并行性的优势,易于实现大规模并行计算。

    一种光刻工艺中移相掩模版的建模方法

    公开(公告)号:CN101923278B

    公开(公告)日:2012-01-04

    申请号:CN200910053203.6

    申请日:2009-06-17

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 曾璇 蔡伟 宗可

    Abstract: 本发明属集成电路光刻领域,涉及一种并行化处理移相掩模建模的方法。本方法在掩模版的金属和石英的垂直交界处将其沿纵向剖分成N个垂直掩模结构,使相邻垂直掩模结构的介电常数在垂直方向分布不同。对特征垂直掩模结构用基于非连续伽勒金的谱元方法计算其电场的特征函数和特征值,并用它们作为基函数表征任意垂直掩模结构的电场分量;在水平方向,用施瓦茨迭代求解N个垂直掩模结构的电场方程及边界条件,在每次迭代中,N个垂直掩模结构的电场计算任务分配到多个计算节点并行完成,每个垂直掩模结构的左右边界条件采用相邻垂直掩模结构在上一步迭代的解。本方法具有精度高和并行计算的特性,能处理实际大规模任意结构移相掩模版的建模。

    一种光刻工艺中移相掩模版的建模方法

    公开(公告)号:CN101923278A

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN200910053203.6

    申请日:2009-06-17

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 曾璇 蔡伟 宗可

    Abstract: 本发明属集成电路光刻领域,涉及一种并行化处理移相掩模建模的方法。本方法在掩模版的金属和石英的垂直交界处将其沿纵向剖分成N个垂直掩模结构,使相邻垂直掩模结构的介电常数在垂直方向分布不同。对特征垂直掩模结构用基于非连续伽勒金的谱元方法计算其电场的特征函数和特征值,并用它们作为基函数表征任意垂直掩模结构的电场分量;在水平方向,用施瓦茨迭代求解N个垂直掩模结构的电场方程及边界条件,在每次迭代中,N个垂直掩模结构的电场计算任务分配到多个计算节点并行完成,每个垂直掩模结构的左右边界条件采用相邻垂直掩模结构在上一步迭代的解。本方法具有精度高和并行计算的特性,能处理实际大规模任意结构移相掩模版的建模。

    一种集成电路寄生参数的粗糙边界面电荷密度提取方法

    公开(公告)号:CN104424370A

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201310383414.2

    申请日:2013-08-28

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 严昌浩 曾璇 蔡伟

    Abstract: 本发明属集成电路计算机辅助设计/电子设计自动化领域,具体涉及集成电路寄生参数提取方向中一种结合边界积分方程和随机法的导体或介质粗糙边界面电荷密度提取方法。其中包括,构造一个或多个球体包含全部待求边界,每个球体与区域边界相交为一个粗糙patch曲面;在每个半球面Γ和粗糙patch曲面围成的封闭曲面上应用特殊Green函数的边界元法进行求解。本发明属于局部性解法,可提取局部区域的电荷密度,而无需离散全芯片的导体和介质粗糙边界面;并具有随机法天然并行性的优势,易于实现大规模并行计算,解决纳米集成电路中全芯片级的互连线和介质粗糙边界面电荷密度问题。

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