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公开(公告)号:CN103904132A
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201410093312.1
申请日:2014-03-14
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L29/872 , H01L29/08 , H01L29/47
CPC classification number: H01L29/66143 , H01L21/28 , H01L29/47 , H01L29/872
Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种调节硅化钛和硅之间肖特基接触势垒的方法。本发明通过向硅化钛薄膜中引入适量氧原子,形成硅化钛(TiSix,内含氧原子)/硅肖特基接触结构,实现对硅化钛与硅之间肖特基接触势垒的有效调节。相比普通硅化钛/硅肖特基整流二极管的工艺流程,本发明只需要增加一步氧原子的引入工艺,就可获得明显的接触势垒调节,整个工艺步骤简单易行,具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN105097503A
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201410199891.8
申请日:2014-05-13
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L21/329 , H01L21/28
Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种调节硅化钛和硅之间肖特基接触势垒的方法。本发明通过向硅化钛薄膜中引入适量氮原子,形成硅化钛(TiSix,内含氮原子)/Si肖特基接触结构,实现对硅化钛与硅之间肖特基接触势垒的有效调节。相比普通硅化钛/硅肖特基整流二极管的工艺流程,本发明只需要增加一步氮原子的引入工艺,就可获得明显的接触势垒调节,整个工艺步骤简单易行,具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN105097503B
公开(公告)日:2017-11-17
申请号:CN201410199891.8
申请日:2014-05-13
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L21/329 , H01L21/28
Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种调节硅化钛和硅之间肖特基接触势垒的方法。本发明通过向硅化钛薄膜中引入适量氮原子,形成硅化钛(TiSix,内含氮原子)/Si肖特基接触结构,实现对硅化钛与硅之间肖特基接触势垒的有效调节。相比普通硅化钛/硅肖特基整流二极管的工艺流程,本发明只需要增加一步氮原子的引入工艺,就可获得明显的接触势垒调节,整个工艺步骤简单易行,具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN103904132B
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201410093312.1
申请日:2014-03-14
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L29/872 , H01L29/08 , H01L29/47
Abstract: 本发明属于微电子技术领域,具体为一种调节硅化钛和硅之间肖特基接触势垒的方法。本发明通过向硅化钛薄膜中引入适量氧原子,形成硅化钛(TiSix,内含氧原子)/硅肖特基接触结构,实现对硅化钛与硅之间肖特基接触势垒的有效调节。相比普通硅化钛/硅肖特基整流二极管的工艺流程,本发明只需要增加一步氧原子的引入工艺,就可获得明显的接触势垒调节,整个工艺步骤简单易行,具有良好的应用前景。
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