测量TSV铜柱中残余应力的方法

    公开(公告)号:CN103439248B

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201310261083.5

    申请日:2013-06-26

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种测量TSV铜柱中残余应力的方法。本发明中,在待测的TSV铜柱表面确定一个测试原点;在所述测试原点的三个方向上,分别制备相同的一组微标记,三组微标记与所述测试原点的位置关系相同;在所述测试原点处打微孔;检测所述打微孔前后,三组所述微标记的位置变化;根据所述三组微标记的位置变化,结合弹性力学,计算得到所述测试原点处的残余应力。使得TSV铜柱中残余应力的测试无需应变片,也无需测定样品TSV铜柱的粗糙度,降低了测试要求,同时也保证了测量的残余应力的高精度。

    纳米铜焊膏、其制备方法及铜-铜键合的方法

    公开(公告)号:CN109317859B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201811307559.3

    申请日:2018-11-05

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于电子材料技术领域,公开了一种纳米铜焊膏、其制备方法以及利用该种纳米铜焊膏实现铜‑铜键合的方法。本发明所提供的纳米铜焊膏,以质量百分含量计包含纳米铜颗粒50~90%,醇胺5~25%,粘度调节剂0~45%。使用本发明所提供的纳米铜焊膏进行铜‑铜键合,不但可降低烧结温度,还可避免纳米铜颗粒的氧化和团聚;在200℃空气气氛中即可完成烧结并得到具有较高剪切强度的铜‑铜互连结构。

    观测TSV铜晶粒的方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103472265A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310392943.9

    申请日:2013-09-02

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种观测TSV铜晶粒的方法。本发明中,采用离子束对待观测的电镀铜进行抛光处理;采用离子束对抛光完成的电镀铜表面进行离子刻蚀;观察电镀铜剖面,最终得到电镀铜晶粒大小和形貌。使得待观测的TSV电镀铜在抛光过程中不会被损伤及沾污,也提高了待观测的TSV电镀铜腐蚀过程中的腐蚀效果及观察效果,同时降低了观测设备的成本,提高观测结果的分辨率。

    测量TSV铜柱中残余应力的方法

    公开(公告)号:CN103439248A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310261083.5

    申请日:2013-06-26

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种测量TSV铜柱中残余应力的方法。本发明中,在待测的TSV铜柱表面确定一个测试原点;在所述测试原点的三个方向上,分别制备相同的一组微标记,三组微标记与所述测试原点的位置关系相同;在所述测试原点处打微孔;检测所述打微孔前后,三组所述微标记的位置变化;根据所述三组微标记的位置变化,结合弹性力学,计算得到所述测试原点处的残余应力。使得TSV铜柱中残余应力的测试无需应变片,也无需测定样品TSV铜柱的粗糙度,降低了测试要求,同时也保证了测量的残余应力的高精度。

    观测TSV铜晶粒的方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103472265B

    公开(公告)日:2018-02-27

    申请号:CN201310392943.9

    申请日:2013-09-02

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种观测TSV铜晶粒的方法。本发明中,采用离子束对待观测的电镀铜进行抛光处理;采用离子束对抛光完成的电镀铜表面进行离子刻蚀;观察电镀铜剖面,最终得到电镀铜晶粒大小和形貌。使得待观测的TSV电镀铜在抛光过程中不会被损伤及沾污,也提高了待观测的TSV电镀铜腐蚀过程中的腐蚀效果及观察效果,同时降低了观测设备的成本,提高观测结果的分辨率。

    纳米铜焊膏、其制备方法及铜-铜键合的方法

    公开(公告)号:CN109317859A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201811307559.3

    申请日:2018-11-05

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于电子材料技术领域,公开了一种纳米铜焊膏、其制备方法以及利用该种纳米铜焊膏实现铜-铜键合的方法。本发明所提供的纳米铜焊膏,以质量百分含量计包含纳米铜颗粒50~90%,醇胺5~25%,粘度调节剂0~45%。使用本发明所提供的纳米铜焊膏进行铜-铜键合,不但可降低烧结温度,还可避免纳米铜颗粒的氧化和团聚;在200℃空气气氛中即可完成烧结并得到具有较高剪切强度的铜-铜互连结构。

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