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公开(公告)号:CN103439248B
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:CN201310261083.5
申请日:2013-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种测量TSV铜柱中残余应力的方法。本发明中,在待测的TSV铜柱表面确定一个测试原点;在所述测试原点的三个方向上,分别制备相同的一组微标记,三组微标记与所述测试原点的位置关系相同;在所述测试原点处打微孔;检测所述打微孔前后,三组所述微标记的位置变化;根据所述三组微标记的位置变化,结合弹性力学,计算得到所述测试原点处的残余应力。使得TSV铜柱中残余应力的测试无需应变片,也无需测定样品TSV铜柱的粗糙度,降低了测试要求,同时也保证了测量的残余应力的高精度。
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公开(公告)号:CN109317859B
公开(公告)日:2021-05-07
申请号:CN201811307559.3
申请日:2018-11-05
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于电子材料技术领域,公开了一种纳米铜焊膏、其制备方法以及利用该种纳米铜焊膏实现铜‑铜键合的方法。本发明所提供的纳米铜焊膏,以质量百分含量计包含纳米铜颗粒50~90%,醇胺5~25%,粘度调节剂0~45%。使用本发明所提供的纳米铜焊膏进行铜‑铜键合,不但可降低烧结温度,还可避免纳米铜颗粒的氧化和团聚;在200℃空气气氛中即可完成烧结并得到具有较高剪切强度的铜‑铜互连结构。
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公开(公告)号:CN103439248A
公开(公告)日:2013-12-11
申请号:CN201310261083.5
申请日:2013-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及微电子领域,公开了一种测量TSV铜柱中残余应力的方法。本发明中,在待测的TSV铜柱表面确定一个测试原点;在所述测试原点的三个方向上,分别制备相同的一组微标记,三组微标记与所述测试原点的位置关系相同;在所述测试原点处打微孔;检测所述打微孔前后,三组所述微标记的位置变化;根据所述三组微标记的位置变化,结合弹性力学,计算得到所述测试原点处的残余应力。使得TSV铜柱中残余应力的测试无需应变片,也无需测定样品TSV铜柱的粗糙度,降低了测试要求,同时也保证了测量的残余应力的高精度。
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公开(公告)号:CN109317859A
公开(公告)日:2019-02-12
申请号:CN201811307559.3
申请日:2018-11-05
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于电子材料技术领域,公开了一种纳米铜焊膏、其制备方法以及利用该种纳米铜焊膏实现铜-铜键合的方法。本发明所提供的纳米铜焊膏,以质量百分含量计包含纳米铜颗粒50~90%,醇胺5~25%,粘度调节剂0~45%。使用本发明所提供的纳米铜焊膏进行铜-铜键合,不但可降低烧结温度,还可避免纳米铜颗粒的氧化和团聚;在200℃空气气氛中即可完成烧结并得到具有较高剪切强度的铜-铜互连结构。
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