随机数发生器和用于生成随机数种子的方法

    公开(公告)号:CN1916838A

    公开(公告)日:2007-02-21

    申请号:CN200610108358.1

    申请日:2006-08-02

    CPC classification number: G06F7/588 H04L9/001 H04L9/0869

    Abstract: 提供了一种用于产生随机数种子的随机数发生器、方法以及计算机程序产品。振荡器阵列内的每一个振荡器都在不同的频率上工作。每一个振荡器的工作频率不是谐波相关的,由此在任何两个振荡器频率之间不存在整数倍数。在一个实施例中,振荡器阵列的输出与多输入锁存器相连。所述多输入锁存器还接收采样信号,该采样信号是时钟信号。所述时钟信号对振荡器阵列的输出进行采样,并且多输入锁存器与随机数确定逻辑(“RNDL”)一起为阵列内部的每一个振荡器产生一个数字输出(0或1)。RNDL使用这些数字输出来创建随机数种子。

    占空比测量方法、装置和包括占空比测量装置的片上系统

    公开(公告)号:CN100414511C

    公开(公告)日:2008-08-27

    申请号:CN200610135798.6

    申请日:2006-10-20

    CPC classification number: G01R29/02 G01R31/2884

    Abstract: 本发明提供了一种用于测量集成电路器件(如微处理器或片上系统)中的检测信号的占空比的装置。所述装置生成与所述占空比成比例且可以用普通实验室或制造设备测量的频率。所述装置可以使用标准互补金属氧化物半导体工艺中的简单电路来实现,它只需要很小的面积且在不用时可以断开电源。所述装置可以包括例如低通滤波器、用于提供校准参考电压信号的分压器、电压到频率转换器、用于分频频率信号输出以便所述信号频率处于预定范围内的分频器以及输出驱动器和输出衬垫。根据所述频率输出信号,可以使用片外设备来计算所述检测信号的占空比。

    占空比测量装置和方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1955936A

    公开(公告)日:2007-05-02

    申请号:CN200610135798.6

    申请日:2006-10-20

    CPC classification number: G01R29/02 G01R31/2884

    Abstract: 本发明提供了一种用于测量集成电路器件(如微处理器或片上系统)中的检测信号的占空比的装置。所述装置生成与所述占空比成比例且可以用普通实验室或制造设备测量的频率。所述装置可以使用标准互补金属氧化物半导体工艺中的简单电路来实现,它只需要很小的面积且在不用时可以断开电源。所述装置可以包括例如低通滤波器、用于提供校准参考电压信号的分压器、电压到频率转换器、用于分频频率信号输出以便所述信号频率处于预定范围内的分频器以及输出驱动器和输出衬垫。根据所述频率输出信号,可以使用片外设备来计算所述检测信号的占空比。

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