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公开(公告)号:CN101410719A
公开(公告)日:2009-04-15
申请号:CN200780011404.9
申请日:2007-05-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G01R31/317 , G01R31/28 , G01R29/027
CPC classification number: G01R31/31922 , G01R29/0273 , G01R31/31725 , G01R31/31727
Abstract: 所公开的方法和设备对时钟信号的占空比进行测量。可变占空比电路接收来自时钟信号发生器的时钟信号。可变占空比电路以依赖于其接收到的占空比索引值的量调节时钟信号的占空比。可变占空比电路将占空比调节后的时钟信号供给分频器电路。设备从起始值直到分频器电路在高于其时发生故障的最大频率对时钟信号的频率进行扫描。于是,设备由最大频率确定占空比调节后的时钟信号的占空比。在一个实施例中,所公开的方法和设备测量在时钟信号传时送到电子电路上的时钟分配网络的所选节点时时钟信号相对于输入节点的相对占空比信息。
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公开(公告)号:CN100414511C
公开(公告)日:2008-08-27
申请号:CN200610135798.6
申请日:2006-10-20
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: G01R29/02 , G01R31/2884
Abstract: 本发明提供了一种用于测量集成电路器件(如微处理器或片上系统)中的检测信号的占空比的装置。所述装置生成与所述占空比成比例且可以用普通实验室或制造设备测量的频率。所述装置可以使用标准互补金属氧化物半导体工艺中的简单电路来实现,它只需要很小的面积且在不用时可以断开电源。所述装置可以包括例如低通滤波器、用于提供校准参考电压信号的分压器、电压到频率转换器、用于分频频率信号输出以便所述信号频率处于预定范围内的分频器以及输出驱动器和输出衬垫。根据所述频率输出信号,可以使用片外设备来计算所述检测信号的占空比。
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公开(公告)号:CN1770632A
公开(公告)日:2006-05-10
申请号:CN200510117376.1
申请日:2005-11-03
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: H03L7/0893 , H03L7/093 , H03L7/095
Abstract: 提供了一种最小化锁相环(PLL)内的滤波器电容器泄漏的方法、装置和计算机程序。在高频处理器和装置内,滤波器泄漏电流可通过使PLL偏离相位锁定而导致严重的问题。为了克服泄漏电流,使用虚设滤波器和其它元件来在锁定期间向低通滤波器提供额外的电荷或电压。电荷或电压的提供成指数地减小了泄漏电流导致的低通滤波器两端的电压的衰减率。
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公开(公告)号:CN101410719B
公开(公告)日:2012-01-18
申请号:CN200780011404.9
申请日:2007-05-16
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G01R31/317 , G01R31/28 , G01R29/027
CPC classification number: G01R31/31922 , G01R29/0273 , G01R31/31725 , G01R31/31727
Abstract: 所公开的方法和设备对时钟信号的占空比进行测量。可变占空比电路接收来自时钟信号发生器的时钟信号。可变占空比电路以依赖于其接收到的占空比索引值的量调节时钟信号的占空比。可变占空比电路将占空比调节后的时钟信号供给分频器电路。设备从起始值直到分频器电路在高于其时发生故障的最大频率对时钟信号的频率进行扫描。于是,设备由最大频率确定占空比调节后的时钟信号的占空比。在一个实施例中,所公开的方法和设备测量在时钟信号传时送到电子电路上的时钟分配网络的所选节点时时钟信号相对于输入节点的相对占空比信息。
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公开(公告)号:CN1770632B
公开(公告)日:2010-05-05
申请号:CN200510117376.1
申请日:2005-11-03
Applicant: 国际商业机器公司
CPC classification number: H03L7/0893 , H03L7/093 , H03L7/095
Abstract: 提供了一种最小化锁相环(PLL)内的滤波器的电容器泄漏的方法、装置和计算机程序。在高频处理器和装置内,滤波器泄漏电流可通过使PLL偏离相位锁定而导致严重的问题。为了克服泄漏电流,使用虚设滤波器和其它元件来在锁定期间向低通滤波器提供额外的电荷或电压。电荷或电压的提供成指数地减小了泄漏电流导致的低通滤波器两端的电压的衰减率。
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公开(公告)号:CN1955936A
公开(公告)日:2007-05-02
申请号:CN200610135798.6
申请日:2006-10-20
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: G06F11/00
CPC classification number: G01R29/02 , G01R31/2884
Abstract: 本发明提供了一种用于测量集成电路器件(如微处理器或片上系统)中的检测信号的占空比的装置。所述装置生成与所述占空比成比例且可以用普通实验室或制造设备测量的频率。所述装置可以使用标准互补金属氧化物半导体工艺中的简单电路来实现,它只需要很小的面积且在不用时可以断开电源。所述装置可以包括例如低通滤波器、用于提供校准参考电压信号的分压器、电压到频率转换器、用于分频频率信号输出以便所述信号频率处于预定范围内的分频器以及输出驱动器和输出衬垫。根据所述频率输出信号,可以使用片外设备来计算所述检测信号的占空比。
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