铁电晶体管
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1192437C

    公开(公告)日:2005-03-09

    申请号:CN00813458.8

    申请日:2000-09-15

    CPC classification number: H01L29/516 H01L28/56

    Abstract: 在一个在半导体衬底(1)中具有两个源/漏极区(13)和一个位于其间的沟道区的铁电晶体管中,在沟道区的表面上设有一个含有Al2O3的第一介电中间层(14),在第一介电中间层(14)的上方设置一个铁电层(15)和一个栅极(16)。通过在第一介电中间层中使用Al2O3,阻塞了从沟道区到第一介电中间层(14)的补偿电荷隧道并且由此延长了数据保存时间。

    存储单元装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1329998C

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN00812491.4

    申请日:2000-07-05

    CPC classification number: H01L27/11502 G11C11/22 H01L27/1203 H01L29/78391

    Abstract: 存储单元装置作为存储单元有一个铁电晶体管,这个在源极区/漏极区(14)之间在半导体基质的表面上有第一个栅中间层(15,16)和第一个栅电极(18),其中第一个栅中间层(15,16)至少包括一个铁电层(18)。除了第一个栅中间层(15,16)之外在源极区/漏极区(14)之间安排了第二个栅中间层(15)和第二个栅电极(19),其中第二个栅中间层(15)包括一个介电层。第一个栅电极(18)和第二个栅电极(19)是经过二极管结构相互连接的。在半导体基质上安排了条形掺杂的空穴区(12),这个在各个铁电晶体管的源极区/漏极区之间延伸。

    铁电晶体管
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1376311A

    公开(公告)日:2002-10-23

    申请号:CN00813458.8

    申请日:2000-09-15

    CPC classification number: H01L29/516 H01L28/56

    Abstract: 在一个在半导体衬底(1)中具有两个源/漏极区(13)和一个位于其间的沟道区的铁电晶体管中,在沟道区的表面上设置了一个含有Al2O3的第一介电中间层(14),在第一介电中间层(14)的上方设置一个铁电层(15)和一个栅极(16)。通过在第一介电中间层中使用Al2O3,阻塞了从沟道区到第一介电层(14)的补偿电荷隧道并且由此延长了数据保存时间。

    存储单元装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1372699A

    公开(公告)日:2002-10-02

    申请号:CN00812491.4

    申请日:2000-07-05

    CPC classification number: H01L27/11502 G11C11/22 H01L27/1203 H01L29/78391

    Abstract: 存储单元装置作为存储单元有一个铁电晶体管,这个在源极区/漏极区(14)之间在半导体基质的表面上有第一个栅中间层(15,16)和第一个栅电极(18),其中第一个栅中间层(15,16)至少包括一个铁电层(18)。除了第一个栅中间层(15,16)之外在源极区/漏极区(14)之间安排了第二个栅中间层(15)和第二个栅电极(19),其中第二个栅中间层(15)包括一个介电层。第一个栅电极(18)和第二个栅电极(19)是经过二极管结构相互连接的。在半导体基质上安排了条形掺杂的空穴区(12),这个在各个铁电晶体管的源极区/漏极区之间延伸。

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