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公开(公告)号:CN1328700A
公开(公告)日:2001-12-26
申请号:CN99813121.0
申请日:1999-09-23
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
IPC: H01L27/115
CPC classification number: H01L27/11502 , G11C11/22 , H01L27/11507
Abstract: 存储单元装置的存储单元各自具有一只选择晶体管(AT)、一只存储晶体管(ST)和一只铁电电容器。选择晶体管(AT)和存储晶体管串联。铁电电容器连接在存储晶体管(ST)的控制极(GS)和选择晶体管(AT)的第一连接端(AA1)之间。
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公开(公告)号:CN1192437C
公开(公告)日:2005-03-09
申请号:CN00813458.8
申请日:2000-09-15
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
CPC classification number: H01L29/516 , H01L28/56
Abstract: 在一个在半导体衬底(1)中具有两个源/漏极区(13)和一个位于其间的沟道区的铁电晶体管中,在沟道区的表面上设有一个含有Al2O3的第一介电中间层(14),在第一介电中间层(14)的上方设置一个铁电层(15)和一个栅极(16)。通过在第一介电中间层中使用Al2O3,阻塞了从沟道区到第一介电中间层(14)的补偿电荷隧道并且由此延长了数据保存时间。
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公开(公告)号:CN1329998C
公开(公告)日:2007-08-01
申请号:CN00812491.4
申请日:2000-07-05
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
IPC: H01L29/51 , H01L29/78 , H01L27/12 , H01L27/115 , H01L27/10
CPC classification number: H01L27/11502 , G11C11/22 , H01L27/1203 , H01L29/78391
Abstract: 存储单元装置作为存储单元有一个铁电晶体管,这个在源极区/漏极区(14)之间在半导体基质的表面上有第一个栅中间层(15,16)和第一个栅电极(18),其中第一个栅中间层(15,16)至少包括一个铁电层(18)。除了第一个栅中间层(15,16)之外在源极区/漏极区(14)之间安排了第二个栅中间层(15)和第二个栅电极(19),其中第二个栅中间层(15)包括一个介电层。第一个栅电极(18)和第二个栅电极(19)是经过二极管结构相互连接的。在半导体基质上安排了条形掺杂的空穴区(12),这个在各个铁电晶体管的源极区/漏极区之间延伸。
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公开(公告)号:CN1376311A
公开(公告)日:2002-10-23
申请号:CN00813458.8
申请日:2000-09-15
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
CPC classification number: H01L29/516 , H01L28/56
Abstract: 在一个在半导体衬底(1)中具有两个源/漏极区(13)和一个位于其间的沟道区的铁电晶体管中,在沟道区的表面上设置了一个含有Al2O3的第一介电中间层(14),在第一介电中间层(14)的上方设置一个铁电层(15)和一个栅极(16)。通过在第一介电中间层中使用Al2O3,阻塞了从沟道区到第一介电层(14)的补偿电荷隧道并且由此延长了数据保存时间。
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公开(公告)号:CN1372699A
公开(公告)日:2002-10-02
申请号:CN00812491.4
申请日:2000-07-05
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
IPC: H01L29/51 , H01L29/78 , H01L27/12 , H01L27/115
CPC classification number: H01L27/11502 , G11C11/22 , H01L27/1203 , H01L29/78391
Abstract: 存储单元装置作为存储单元有一个铁电晶体管,这个在源极区/漏极区(14)之间在半导体基质的表面上有第一个栅中间层(15,16)和第一个栅电极(18),其中第一个栅中间层(15,16)至少包括一个铁电层(18)。除了第一个栅中间层(15,16)之外在源极区/漏极区(14)之间安排了第二个栅中间层(15)和第二个栅电极(19),其中第二个栅中间层(15)包括一个介电层。第一个栅电极(18)和第二个栅电极(19)是经过二极管结构相互连接的。在半导体基质上安排了条形掺杂的空穴区(12),这个在各个铁电晶体管的源极区/漏极区之间延伸。
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