公开(公告)号：CN118038200A

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN202410009375.8

申请日：2024-01-03

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 高明 ,  黄金杰 ,  丁可为 ,  周志彦

IPC: G06V10/774 ,  G06V10/80 ,  G06V10/44 ,  G06V10/82 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/094 ,  G06T7/00

Abstract: 发明提供了一种图像缺陷检测模型构建方法、图像缺陷检测方法及装置，涉及电容层析成像技术领域，该构建方法包括：获取多个已知缺陷材料的有损电容数据及对应的真实缺陷图像集，并根据每组所述有损电容数据得到对应的灵敏度场；对每个所述灵敏度场进行优化，并通过优化后的所述灵敏度场和对应的所述有损电容数据得到对应的介电常数分布；分别根据各所述介电常数分布进行图像重建，得到初始重建图像集；根据所述初始重建图像集和所述真实缺陷图像集对原始DualGAN模型进行训练及优化，得到图像缺陷检测模型，所述图像缺陷检测模型用于得到待测材料对应的缺陷图像。本发明提高了提高PECT图像缺陷检测的精度。

公开(公告)号：CN118038200B

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202410009375.8

申请日：2024-01-03

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 高明 ,  黄金杰 ,  丁可为 ,  周志彦

IPC: G06V10/774 ,  G06V10/80 ,  G06V10/44 ,  G06V10/82 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/094 ,  G06T7/00

Abstract: 发明提供了一种图像缺陷检测模型构建方法、图像缺陷检测方法及装置，涉及电容层析成像技术领域，该构建方法包括：获取多个已知缺陷材料的有损电容数据及对应的真实缺陷图像集，并根据每组所述有损电容数据得到对应的灵敏度场；对每个所述灵敏度场进行优化，并通过优化后的所述灵敏度场和对应的所述有损电容数据得到对应的介电常数分布；分别根据各所述介电常数分布进行图像重建，得到初始重建图像集；根据所述初始重建图像集和所述真实缺陷图像集对原始DualGAN模型进行训练及优化，得到图像缺陷检测模型，所述图像缺陷检测模型用于得到待测材料对应的缺陷图像。本发明提高了提高PECT图像缺陷检测的精度。