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公开(公告)号：CN115544942A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211130090.7
申请日：2022-09-16
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G06F30/392
Abstract: 本发明提供一种无模糊测向非均匀阵列设计方法，是一种基于计算机合理遍历设计无模糊高精度的非均匀测向阵列方法。首先计算出实际情况时所有可能合理的非均匀阵列形式；对这些非均匀阵列利用MUSIC算法在高频率易模糊频点上进行测试，测试时可加入可能引起测角模糊的因素，如通道不一致性等。对每种阵列形式进行多次蒙特卡洛实验，计算测角均方根误差，根据测试结果选择均方根误差较小的阵列形式；选定形式后，验证在所要求的测角范围内是否能够实现无模糊高精度测角。若一次选定不能符合要求，则再次选择其他均方根误差小的阵列形式，再次测试，直到达到设计要求。本发明可将影响测角模糊的因素考虑在阵列设计中，设计方式可靠，具有良好的应用前景。
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