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公开(公告)号:CN114894733A
公开(公告)日:2022-08-12
申请号:CN202210591636.2
申请日:2022-05-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种基于VIS‑NIR光谱分析的无损苹果糖度测试方法,获取所需的苹果样本材料,并对所得到的材料进行预处理;得到样本材料后,利用光谱采集装置对所选取的样本进行光谱采集,得到待测样本的原始光谱图;采取样本中的部分区域,利用数字折光仪分别对样本的进行糖度的标定,确定每个样本的真实糖度;使用SG卷积平滑对光谱进行预处理,对采集好的光谱进行预处理,减少光谱噪声的影响,得到平滑后的光谱;结合所得样本的光谱与糖度标定数据,采用偏最小二乘回归法(PLSR)建立糖度预测模型;最终结合模型对任意苹果糖度进行检测,并根据检测结果对系统进行整体调式。本发明无损检测,操作简单,使用方便。