公开(公告)号：CN114894733A

公开(公告)日：2022-08-12

申请号：CN202210591636.2

申请日：2022-05-27

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 朱正 ,  董官清 ,  朱小潇 ,  闫志坚 ,  胡箫 ,  马骏楠 ,  那博超 ,  李平

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/59 ,  G01N21/47 ,  G01N21/49 ,  G06F30/20

Abstract: 本发明公开了一种基于VIS‑NIR光谱分析的无损苹果糖度测试方法，获取所需的苹果样本材料，并对所得到的材料进行预处理；得到样本材料后，利用光谱采集装置对所选取的样本进行光谱采集，得到待测样本的原始光谱图；采取样本中的部分区域，利用数字折光仪分别对样本的进行糖度的标定，确定每个样本的真实糖度；使用SG卷积平滑对光谱进行预处理，对采集好的光谱进行预处理，减少光谱噪声的影响，得到平滑后的光谱；结合所得样本的光谱与糖度标定数据，采用偏最小二乘回归法(PLSR)建立糖度预测模型；最终结合模型对任意苹果糖度进行检测，并根据检测结果对系统进行整体调式。本发明无损检测，操作简单，使用方便。