公开(公告)号：CN114923879A

公开(公告)日：2022-08-19

申请号：CN202210379738.8

申请日：2022-04-12

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 邹波 ,  孙华锐 ,  周宇

IPC: G01N21/47

Abstract: 本发明适用于过渡金属硫族化合物层数测量技术领域，提供了一种过渡金属硫族化合物的层数确定方法，包括以下步骤：选取层数不同的15个检测区域；获取相同光强下与各个检测区域的白光反射谱；根据各个白光反射谱确定每个检测区域的第一反射峰强度和/或第二反射峰强度；获取各个检测区域的层数；确定所有检测区域的层数与第一反射峰强度和/或第二反射峰强度的对应关系；根据对应关系以及待检测样品的白光反射谱确定待检测样品的层数。本发明提供的过渡金属硫族化合物的层数确定方法，能够简单、快速、可靠且无损地高通量确定检测区域的层数。

公开(公告)号：CN112858256A

公开(公告)日：2021-05-28

申请号：CN202110215240.3

申请日：2021-02-26

Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)

Inventor： 邹波 ,  孙华锐

IPC: G01N21/65 ,  G16C20/20

Abstract: 本申请适用于半导体材料技术领域，提供了一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中在平行偏振配置下测试黑磷样品的拉曼光谱信息；根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向；确定每个主轴方向对应的拉曼强度比，根据上述拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴，从而准确便捷地判断出黑磷晶轴。