2.5D集成电路BIST测试链配置优化模型及测试链路配置方法

    公开(公告)号:CN118033379A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410208461.1

    申请日:2024-02-26

    Abstract: 2.5D集成电路BIST测试链配置优化模型及测试链路配置方法,属于集成电路测试领域,本发明为解决现有2.5D集成电路测试时平衡测试时间与测试硬件开销的效果不理想的问题。本发明优化模型描述为:将2.5D集成电路中间层上的M个晶片水平划分出最多#imgabs0#个测试链,再垂直划分出最多#imgabs1#个测试组;优化模型的决策变量可以定义为:决策变量xij的集合#imgabs2#和决策变量zikj的集合#imgabs3##imgabs4#优化模型的目标为最小化测试成本F1以及最小化硬件成本F2。

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