一种双面阵CCD辅助三线阵CCD位姿光学测量及校准方法

    公开(公告)号:CN111595302A

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN202010443168.5

    申请日:2020-05-22

    Abstract: 本发明公开了一种双面阵CCD辅助三线阵CCD位姿光学测量及校准方法。步骤1:器材准备,确定合作目标,采用三个红色LED光点作为合作目标;步骤2:测量仪器安装;步骤3:柱面镜镜头设计,线阵CCD相机镜头采用柱面镜和滤光片组成;步骤4:进行测量,通过快速捕捉过程、粗调计算过程、精调计算过程和校准过程直至获得精调坐标数据。本发明基于像方远心光路的光学镜头,不仅满足系统大视场、大景深、低畸变的要求,而且采用双面阵CCD辅助三线阵CCD完成测量系统的构建。

    一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法

    公开(公告)号:CN111678433A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN202010444221.3

    申请日:2020-05-22

    Abstract: 本发明公开一种基于双经纬仪的空间大尺寸坐标快速测量方法。步骤1:准备器材,十字靶标、经纬仪和量尺或量块、并将上述器材进行安装;步骤2:预调基准,定义零点,而后测量待测坐标点;步骤3:将预调基准后的器材进行实际测量,实际测量包括以下步骤;步骤4:记录测量后的待测坐标点的坐标值。本发明解决通用性不强、误差影响因素多和所需设备成本较高的问题。

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