一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置

    公开(公告)号:CN111665517A

    公开(公告)日:2020-09-15

    申请号:CN202010477987.1

    申请日:2020-05-29

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置,方法包括以下步骤:1)获取单光子激光测高数据;2)进行数据预处理;3)采用方向、大小随坡度自适应变化的椭圆搜索区域进行光子密度计算;4)通过采用OTSU方法自适应计算分段阈值分离信号光子与噪声光子,并采用K最近邻距离去除离散噪声点。与现有技术相比,本发明不受背景噪声光子不均匀的影响,自适应较强,不仅可以随着斜率自适应地改变搜索椭圆的方向,而且可以改变大小,并且使用分段阈值来分离每个段的信号光子和噪声光子,进一步去除粗去噪后残留的少量离散噪声点,本发明方案信号提取较完整,去噪精度高、效率高。

    一种模拟基坑降水土抗剪强度变化的试验方法

    公开(公告)号:CN102262022B

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN201110196507.5

    申请日:2011-07-14

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种模拟基坑降水土抗剪强度变化的试验方法,包括以下步骤:1)用钢丝锯、削土刀和切土盘等设备制备原状土试样;2)在真空罐内对试样进行抽气、注水饱和;3)在三轴压力室内安装套有乳胶膜的试样;4)通过三轴周围压力系统对试样进行两阶段固结,第一次固结使试样恢复土体天然自重应力状态,第二次固结模拟降水后土体应力状态;5)通过轴向加荷系统对试样进行不排水剪切试验;6)试验结束,关掉电动机和阀门,拆除试样。本发明考虑了基坑降水土含水量减小、有效应力增大、土固结压密对土抗剪强度的影响,为基坑降水土抗剪强度指标的准确选取提供了依据,从而为安全、经济、合理地设计与施工软土富水地层深基坑提供了保障。

    一种承压水基坑开挖与降压耦合效应的突涌破坏计算处理方法

    公开(公告)号:CN102322078A

    公开(公告)日:2012-01-18

    申请号:CN201110163373.7

    申请日:2011-06-17

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种承压水基坑开挖与降压耦合效应的突涌破坏计算处理方法,包括以下步骤:1)选取基坑降压渗流场和开挖应力场模型计算范围;2)定义计算范围内坑周土材料属性;3)用有限元程序创建几何实体模型,进行单元离散化;4)设定基坑降压渗流场和开挖应力场模型边界条件;5)对基坑模型进行开挖与降压耦合效应的有限元模拟计算;6)根据计算结果得出承压水基坑坑周土突涌塑性破坏分布图,判断基坑是否突涌。与现有技术相比,本发明考虑了基坑开挖效应和降压渗流效应的耦合作用,考虑了坑周土抗剪强度、非均质性和弹塑性,弥补了现有基坑突涌评判方法的不足,提高了基坑突涌破坏判断的准确性和可靠性。

    一种模拟基坑降水土渗透系数变化的试验方法

    公开(公告)号:CN101915721B

    公开(公告)日:2011-11-16

    申请号:CN201010209039.6

    申请日:2010-06-24

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种模拟基坑降水土渗透系数变化的试验方法,具体步骤为:用环刀切取原状土试样,在试样两端贴上滤纸;将渗压容器与渗流管路及渗流计量管连通,使整个管路及渗压容器内透水石得到充分排气饱和,关闭阀门;将装有土样的环刀,刀口向上装入渗压容器内,并在环刀外面套上止水圈和定向垫片,压紧,在试样上端装上透水石和传压活塞;通过调压阀对试样进行两阶段固结,第一次固结使试样恢复土体天然自重应力状态,第二次固结模拟降水后土体应力状态;固结完成后,打开渗流阀门,开始后续渗流试验。本发明考虑了基坑降水土含水量减小、有效应力增大、土固结压密对渗透系数的影响,为基坑降水土渗透系数的准确选取提供了依据,从而为安全、经济、合理地设计与施工软土富水深基坑提供了保障。

    一种深基坑工程动态风险信息管理系统

    公开(公告)号:CN102226915A

    公开(公告)日:2011-10-26

    申请号:CN201110141823.2

    申请日:2011-05-27

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种深基坑工程动态风险信息管理系统,包括:项目管理装置,用于建立与保存工程项目的具体信息,并储存在数据库中;风险管理装置,用于根据具体工程,辨识风险因素,并将风险因素储存在数据库;之后通过风险权重计算和风险评价完成风险评估;再针对各个风险因素的评价结果,给出相应的风险对策,跟踪管理风险,并将风险对策信息储存在数据库内;后台数据维护装置,用于根据工程的实际情况,对风险因素和风险对策进行选择、添加、修改、删除、保存或取消中的一种或几种操作,并可查询风险信息;系统管理装置,用于添加用户和修改密码;帮助装置,用于介绍系统操作的内容。与现有技术相比,本发明具有评估效率高、准确、可靠等优点。

    一种基于激光测高卫星足印影像的激光足印平面定位方法

    公开(公告)号:CN110940966B

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN201911167685.8

    申请日:2019-11-25

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于激光测高卫星足印影像的激光足印平面定位方法,该方法包括以下步骤:激光测高卫星数据获取步骤:获取足印影像和卫星测绘影像,所述足印影像中包括激光足印;足印影像足印中心探测步骤:在足印影像中探测出激光足印中心;足印定位步骤:将足印影像中的激光足印中心转换到卫星测绘影像中,获取激光足印平面定位结果。与现有技术相比,本发明基于GF‑7号卫星的载荷特点(搭载足印相机)进行激光足印平面定位,具有平面定位精度高和激光足印中心探测的效率高等优点。

    一种模拟基坑降水土抗剪强度变化的试验方法

    公开(公告)号:CN102262022A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN201110196507.5

    申请日:2011-07-14

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种模拟基坑降水土抗剪强度变化的试验方法,包括以下步骤:1)用钢丝锯、削土刀和切土盘等设备制备原状土试样;2)在真空罐内对试样进行抽气、注水饱和;3)在三轴压力室内安装套有乳胶膜的试样;4)通过三轴周围压力系统对试样进行两阶段固结,第一次固结使试样恢复土体天然自重应力状态,第二次固结模拟降水后土体应力状态;5)通过轴向加荷系统对试样进行不排水剪切试验;6)试验结束,关掉电动机和阀门,拆除试样。本发明考虑了基坑降水土含水量减小、有效应力增大、土固结压密对土抗剪强度的影响,为基坑降水土抗剪强度指标的准确选取提供了依据,从而为安全、经济、合理地设计与施工软土富水地层深基坑提供了保障。

    一种模拟基坑降水土渗透系数变化的试验方法

    公开(公告)号:CN101915721A

    公开(公告)日:2010-12-15

    申请号:CN201010209039.6

    申请日:2010-06-24

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种模拟基坑降水土渗透系数变化的试验方法,具体步骤为:用环刀切取原状土试样,在试样两端贴上滤纸;将渗压容器与渗流管路及渗流计量管连通,使整个管路及渗压容器内透水石得到充分排气饱和,关闭阀门;将装有土样的环刀,刀口向上装入渗压容器内,并在环刀外面套上止水圈和定向垫片,压紧,在试样上端装上透水石和传压活塞;通过调压阀对试样进行两阶段固结,第一次固结使试样恢复土体天然自重应力状态,第二次固结模拟降水后土体应力状态;固结完成后,打开渗流阀门,开始后续渗流试验。本发明考虑了基坑降水土含水量减小、有效应力增大、土固结压密对渗透系数的影响,为基坑降水土渗透系数的准确选取提供了依据,从而为安全、经济、合理地设计与施工软土富水深基坑提供了保障。

    软土地层含承压水基坑突涌渗透破坏判断方法

    公开(公告)号:CN101906786A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010221715.1

    申请日:2010-07-08

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 软土地层含承压水基坑突涌渗透破坏判断方法,尤其涉及一种软土地层含弱透水层的承压水基坑突涌渗透破坏判断方法。本发明根据基坑坑底出渗面土体稳定条件,推导得到坑底土突涌渗透破坏方程,再根据渗透破坏方程整理得到突涌破坏临界渗透坡降;然后建立基坑二维渗流计算模型,计算坑底土最大渗流坡降;判断坑底土是否产生渗透破坏。与现有技术相比,本发明克服了强度理论和其它方法对坑底发生流砂、流土或类似于“沸腾”喷水冒砂这样的突涌破坏现象无法解释这一不足。

    一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置

    公开(公告)号:CN111665517B

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202010477987.1

    申请日:2020-05-29

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于密度统计的单光子激光测高数据去噪方法及装置,方法包括以下步骤:1)获取单光子激光测高数据;2)进行数据预处理;3)采用方向、大小随坡度自适应变化的椭圆搜索区域进行光子密度计算;4)通过采用OTSU方法自适应计算分段阈值分离信号光子与噪声光子,并采用K最近邻距离去除离散噪声点。与现有技术相比,本发明不受背景噪声光子不均匀的影响,自适应较强,不仅可以随着斜率自适应地改变搜索椭圆的方向,而且可以改变大小,并且使用分段阈值来分离每个段的信号光子和噪声光子,进一步去除粗去噪后残留的少量离散噪声点,本发明方案信号提取较完整,去噪精度高、效率高。

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