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公开(公告)号：CN114421219B
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210136365.1
申请日：2019-08-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H01R13/52 , H01R13/629
Abstract: 本公开提供一种用于导电和传送流体的接口结构和探测器装置。所述接口结构包括：绝缘组件、传输组件和卡套组件。所述卡套组件用于安装在待连接的结构上并使得所述接口结构进一步固定在待连接的结构的孔内。卡套组件包括：内锥形楔件，能楔入待连接的结构的孔内，并压在绝缘组件的表面上；外螺纹环连接件，具有内螺纹以能够与待连接的结构的表面的螺纹实现螺纹连接。
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公开(公告)号：CN112349577B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN201910733194.9
申请日：2019-08-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供一种用于导电和传送流体的接口结构和探测器装置。所述接口结构包括：绝缘组件和传输组件。绝缘组件包括容纳段，具有中空结构，限定容纳空间。传输组件包括：传输构件，所述传输构件具有中空结构，限定第一导流孔；和导电件。传输构件位于绝缘组件的容纳段的容纳空间内，传输构件的第一导流孔与容纳空间流体连通，并且所述传输构件的外表面与所述绝缘组件的容纳段的内表面之间形成流体密封。
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公开(公告)号：CN119723124A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510228639.3
申请日：2025-02-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种电子产品的风险检测方法和风险检测设备，应用于射线检测技术领域。该方法包括：根据获取的产品重量信息和基准重量信息，确定重量差异信息；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的峰值信噪比，峰值信噪比表征待检产品与基准产品之间的整体相似性；根据获取的第一图像和第二图像，确定待检产品与基准产品的射线衰减度平面二维分布图像的减影值，减影值表征待检产品与基准产品之间的局部差异性；根据重量差异信息、峰值信噪比和减影值，确定待检产品的风险程度。本发明通过较低的射线能量和剂量可以减小检测成本和减小防护难度。
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公开(公告)号：CN114421219A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210136365.1
申请日：2019-08-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H01R13/52 , H01R13/629
Abstract: 本公开提供一种用于导电和传送流体的接口结构和探测器装置。所述接口结构包括：绝缘组件、传输组件和卡套组件。所述卡套组件用于安装在待连接的结构上并使得所述接口结构进一步固定在待连接的结构的孔内。卡套组件包括：内锥形楔件，能楔入待连接的结构的孔内，并压在绝缘组件的表面上；外螺纹环连接件，具有内螺纹以能够与待连接的结构的表面的螺纹实现螺纹连接。
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公开(公告)号：CN112349577A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201910733194.9
申请日：2019-08-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供一种用于导电和传送流体的接口结构和探测器装置。所述接口结构包括：绝缘组件和传输组件。绝缘组件包括容纳段，具有中空结构，限定容纳空间。传输组件包括：传输构件，所述传输构件具有中空结构，限定第一导流孔；和导电件。传输构件位于绝缘组件的容纳段的容纳空间内，传输构件的第一导流孔与容纳空间流体连通，并且所述传输构件的外表面与所述绝缘组件的容纳段的内表面之间形成流体密封。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107861146B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN201711428826.8
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本发明的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。
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公开(公告)号：CN107861146A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711428826.8
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本发明的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。
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公开(公告)号：CN115436989A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110625375.7
申请日：2021-06-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: 本公开涉及一种束流分布专用探测装置和束流分布探测方法。该束流分布专用探测装置包括至少一个探测器模块，探测器模块包括线阵探测器和逻辑控制模组，其中，线阵探测器，被配置为根据逻辑控制模组的指示，采集束流数据；逻辑控制模组，被配置为对束流数据进行处理，根据处理后的束流数据判断束流状态是否满足预定要求；在束流状态不满足预定要求的情况下，对束流进行调整。本公开采用线阵探测器，使用方法简单，大大节省了调试时间。
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公开(公告)号：CN222461362U
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202422774556.8
申请日：2024-11-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本实用新型提供了一种射线检测设备，应用于射线检测技术领域，射线检测设备包括：防护壳，防护壳具有容纳腔，容纳腔具有敞开口，敞开口处设有开关门，以打开和闭合敞开口；射线源，射线源设于容纳腔；探测器，探测器设于容纳腔，待检产品适于放置于射线源与探测器之间，接受射线源的扫描；称重装置，称重装置设于容纳腔，用于对待检产品称重；控制装置，控制装置与射线源、探测器和称重装置均通讯连接，用于控制射线源出束、接收探测器的射线信号以及接收称重装置的重量信息，对射线信号和重量信息进行处理，得到检测结果。本实用新型实施例提出的射线检测设备体积小、使用场景灵活以及检测结果准确。
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公开(公告)号：CN207851314U
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201721842602.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本实用新型的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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