物体检查系统和物体检查方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117645113A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311649344.0

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本公开提供了一种物体检查系统,涉及物体检查领域、辐射扫描领域、安检领域或其他领域。该系统包括:运输装置,包括运输物体的第一运输机构和第三运输机构;射线扫描装置,包括第二运输机构,配置成运输来自所述第一运输机构的物体至射线扫描区域,并将所述物体运输至所述第三运输机构;控制装置,与所述运输装置和所述射线扫描装置通信连接;其中,所述运输装置、所述射线扫描装置和所述控制装置采用统一的通讯协议,所述运输装置配置成通过所述控制装置控制所述第二运输机构的运转。本公开还提供了一种物体检查方法。

    安检设备
    5.
    发明公开
    安检设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119247496A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411612535.4

    申请日:2024-11-12

    Abstract: 本发明提供了一种安检设备,包括:第一安检通道;第二安检通道,与第一安检通道间隔开,形成间隔通道;安装于第一安检通道的两个第一射线源,形成的第一束面与第一安检通道相交形成第一交汇位置,形成的第二束面与第一安检通道相交形成第二交汇位置;安装于第二安检通道的两个第二射线源,形成的第三束面与第二安检通道相交形成第三交汇位置,形成的第四束面与第二安检通道相交形成第四交汇位置;安装于第一交汇位置处和第二交汇位置处的两个第一探测器组;安装于第三交汇位置处和第四交汇位置处的两个第二探测器组;其中,位于间隔通道的第一探测器组与位于间隔通道的第二探测器组在间隔通道的延伸方向上间隔开。

    电子产品的射线检测系统和方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119310442A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411630229.3

    申请日:2024-11-14

    Abstract: 本发明提供了一种电子产品的射线检测系统和方法,射线检测系统包括:防辐射壳体,防辐射壳体具有容纳腔;射线源,射线源设于容纳腔;载物装置,载物装置可推拉地设于容纳腔,用于放置待检测电子产品,载物装置的未被容纳腔包裹的侧面为防辐射材料制成;探测器,探测器设于容纳腔,射线源与探测器分别位于载物装置相对的两侧;控制装置,控制装置设于防辐射壳体外,与射线源和探测器均通讯连接,用于控制射线源出束和接收探测器的扫描图像,对扫描图像进行处理,得到检测结果。本发明的射线检测系统检测效率高,占地面积小,使用场景灵活。

    物体检查系统和物体跟踪方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117645112A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311649296.5

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本公开提供了一种物体检查系统,涉及物体检查领域、辐射扫描领域、安检领域或其他领域,该系统包括:运输装置,包括运输物体的第一运输机构,其中,在所述第一运输机构设置有第一触发机构,所述第一触发机构用于跟踪所述物体;射线扫描装置,包括第二运输机构,所述第二运输机构配置成运输来自所述第一运输机构的所述物体至射线扫描区域,且在停止运输所述物体后反向运转一定距离;其中,所述第一触发机构距所述射线扫描装置入口具有第一距离,所述第一距离大于所述第二运输机构在反向运转过程中其上任一物体的移动距离。本公开还提供了一种物体跟踪方法。

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