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公开(公告)号:CN117645112A
公开(公告)日:2024-03-05
申请号:CN202311649296.5
申请日:2023-12-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种物体检查系统,涉及物体检查领域、辐射扫描领域、安检领域或其他领域,该系统包括:运输装置,包括运输物体的第一运输机构,其中,在所述第一运输机构设置有第一触发机构,所述第一触发机构用于跟踪所述物体;射线扫描装置,包括第二运输机构,所述第二运输机构配置成运输来自所述第一运输机构的所述物体至射线扫描区域,且在停止运输所述物体后反向运转一定距离;其中,所述第一触发机构距所述射线扫描装置入口具有第一距离,所述第一距离大于所述第二运输机构在反向运转过程中其上任一物体的移动距离。本公开还提供了一种物体跟踪方法。
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公开(公告)号:CN119785154A
公开(公告)日:2025-04-08
申请号:CN202411920620.7
申请日:2024-12-24
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06V10/776 , G06V10/72 , G06V10/774
Abstract: 本公开提供了一种模型微调方法、装置、设备、介质和程序产品,可以应用于人工智能、计算机技术领域。该方法包括:基于图像数据筛选条件,确定一个或多个图像数据;利用图像识别模型,对图像数据进行识别,得到一个或多个图像数据的算法标记;利用质控模型对图像数据进行识别,得到一个或多个图像数据的质控标记;在确定一个或多个图像数据中,存在与图像数据对应的算法标记和质控标记表征图像识别模型出错的情况下,基于一个或多个图像数据以及与一个或多个图像数据各自对应的质控标记,确定微调数据集;以及基于微调数据集对图像识别模型进行参数微调,得到微调后的目标图像识别模型。
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公开(公告)号:CN117645113A
公开(公告)日:2024-03-05
申请号:CN202311649344.0
申请日:2023-12-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种物体检查系统,涉及物体检查领域、辐射扫描领域、安检领域或其他领域。该系统包括:运输装置,包括运输物体的第一运输机构和第三运输机构;射线扫描装置,包括第二运输机构,配置成运输来自所述第一运输机构的物体至射线扫描区域,并将所述物体运输至所述第三运输机构;控制装置,与所述运输装置和所述射线扫描装置通信连接;其中,所述运输装置、所述射线扫描装置和所述控制装置采用统一的通讯协议,所述运输装置配置成通过所述控制装置控制所述第二运输机构的运转。本公开还提供了一种物体检查方法。
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