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公开(公告)号:CN119904867A
公开(公告)日:2025-04-29
申请号:CN202411993359.3
申请日:2019-09-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06V20/70 , G06V10/764
Abstract: 本申请提供了一种基于语义的图像识别系统,可以包括:透视图获取模块,被配置为获取针对封闭环境中的被检对象的透视图;语义要素提取模块,被配置为提取针对所述透视图中的每一个被检对象的目标语义区域;特征表示模块,被配置为获得针对所述语义区域中的每一个语义区域的特征表示;决策模块,被配置为基于过滤模型以及预定阈值,确定目标特征以识别被检对象;以及显示模块,被配置为显示被检对象的信息。
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公开(公告)号:CN118261834A
公开(公告)日:2024-06-28
申请号:CN202211676736.1
申请日:2022-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T5/80 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06T7/80
Abstract: 本发明涉及尺度自适应方法和装置、以及图像识别方法和装置。尺度自适应方法包括:采集数据获取步骤,获取已知设备和目标设备对预定对象的采集数据;搜索空间确定步骤,根据采集数据获取尺度缩放因子的搜索空间;校正图像集获取步骤,利用各尺度缩放因子对目标设备采集的验证图像集进行校正而获取多个校正图像集;智能识别步骤,对验证图像集与校正图像集进行识别,获取识别结果;评估步骤,利用识别结果获取针对该校正图像集的评估指标;迭代次数步骤,判断搜索尺度缩放因子的迭代次数是否大于预定次数,当迭代次数不大于预定次数时基于评估指标重新构建搜索空间;尺度缩放因子确定步骤,当迭代次数大于预定次数时根据评估指标确定尺度缩放因子。
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公开(公告)号:CN117636042A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311656863.X
申请日:2023-12-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/40 , G06V10/80
Abstract: 本公开涉及一种数据复核方法、装置和计算机可读存储介质,涉及数据处理领域。该数据复核方法,包括:获取待复核数据集,其中,待复核数据集包括:多个图像及其标注信息;根据每个图像的特征数据,将待复核数据集划分为多个子集;根据每个子集中的图像的特征数据,确定每个子集的凸包以及凸包上的数据;根据每个子集的凸包上的数据,确定多个图像的标注信息是否准确。该数据复核方法能够有效提高发现错误标注数据的效率。
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公开(公告)号:CN117496175A
公开(公告)日:2024-02-02
申请号:CN202210874255.5
申请日:2022-07-22
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06V10/44 , G06V10/762 , G06V10/82 , G06N3/08 , G06N3/0464
Abstract: 本公开提供了一种检测对象风险预警方法,可以应用于人工智能技术领域和安保技术领域。该检测对象风险预警方法包括:对待检测图像进行图像特征提取,得到目标框图像特征信息,其中,待检测图像包括检测对象的透视图像;利用图像复杂度评估模型对目标框图像特征信息进行处理,得到针对待检测图像的图像复杂度信息;以及根据图像复杂度信息,确定针对检测对象的风险预警结果。本公开还提供了一种辐射检查方法、装置、设备、存储介质和程序产品。
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公开(公告)号:CN108181327B
公开(公告)日:2021-02-05
申请号:CN201611159161.0
申请日:2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法,包括:获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量,其中N大于2;利用非线性降维算法将所述透明度相关向量和所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量映射到二维平面上,以分别得到所述待测物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点和所述多种物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点集合;确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点;以及将所述待测物品识别为所述多种物品中与所述最近的点相对应的物品。
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公开(公告)号:CN108181326B
公开(公告)日:2020-08-18
申请号:CN201611159090.4
申请日:2016-12-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法,包括:获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量,其中N大于2;计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离;以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统,通过对多能谱物质识别问题的分析,提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统,多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力,特别是在安检应用领域,物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。
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公开(公告)号:CN106885813B
公开(公告)日:2019-06-07
申请号:CN201510941150.7
申请日:2015-12-16
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N23/04 , G01N2223/401 , G01N2223/626 , G06K9/48 , G06T7/13 , G06T7/40 , G06T2207/10116
Abstract: 公开了一种检查货物的方法和系统。该方法包括步骤:获得被检查货物的透射图像;对所述透射图像进行处理得到可疑区域;提取所述可疑区域的局部纹理特征,并利用事先创建的模型对所述可疑区域的局部纹理特征进行分类,得到分类结果;提取所述可疑区域的轮廓线形状特征,并将所述轮廓线形状特征与事先创建的标准模板进行比较,得到比较结果;以及综合所述分类结果和所述比较结果,确定所述可疑区域中包含高原子序数物质。
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公开(公告)号:CN104750697B
公开(公告)日:2019-01-25
申请号:CN201310734306.5
申请日:2013-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了一种基于透视图像内容的检索系统,包括:预分类模块,用于对透视图像进行预分类处理,将所述透视图像划分为纹理图像和非纹理图像两类;图像内容特征提取模块,用于对所述透视图像内容进行特征提取;图像表征模块,用于对所述透视图像内容的特征描述向量进行整合,构建图像表征向量;检索模块,用于基于检索模型从图像表征数据库中检索到与所检索的图像表征向量相似度较高的若干幅图像,从而构建初级候选结果;多样性过滤模块,用于对所述初级候选结果进行过滤,挑选出可以覆盖多个货物种类的图像子集,从而构成多样性的检索结果;相关度反馈调节模块,用于接受用户对检索结果的信息反馈,并进行检索模型的更新;以及交互模块,用于显示检索结果并采集用户对检索结果的满意程度的反馈。
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公开(公告)号:CN103901489B
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201210581468.5
申请日:2012-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G06T7/0004 , G01V5/005 , G06K9/00201 , G06T7/0002 , G06T15/08 , G06T2200/04 , G06T2207/10116 , G06T2207/30112
Abstract: 公开了一种检查行李的方法、显示方法和设备。该显示方法包括步骤:利用CT成像系统获取被检查行李的断层数据;从断层数据生成所述被检查行李中各个物体的三维体数据;针对每个物体,基于三维体数据确定至少包括该物体的量词描述的语义描述;接收用户对某个物体的选择,在显示所选择物体的三维图像的同时,呈现该物体的语义描述。利用上述方案,通过自动检测与描述,实现物体的自动辅助检测。物体描述结果是对人工检测的必要补充,也是加强人机交互的一种手段,在减少漏检这一重要问题上有很强的应用价值。
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公开(公告)号:CN106706677A
公开(公告)日:2017-05-24
申请号:CN201510795436.9
申请日:2015-11-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种检查货物的方法和系统。该方法包括步骤:获得被检查货物的透射图像和HSCODE;对所述透射图像进行处理,得到感兴趣区域;利用所述被检查货物的HSCODE从模型库中检索基于HSCODE所创建的模型;以及基于所述模型判断所述感兴趣区域是否包含有未在报关单中注明的货物。利用上述方案,能够对集装箱货物进行有效的查验,发现其中是否夹带有报关单上未注明的货物。
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