一种基于高阶模式背向瑞利散射的少模光纤故障检测方法

    公开(公告)号:CN110071762A

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201910358985.8

    申请日:2019-04-30

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于高阶模式背向瑞利散射的少模光纤故障检测方法,属于光纤故障检测技术领域。本发明针对少模光纤仅利用基模背向瑞利散射进行故障检测所导致的灵敏度低的问题,无法准确有效实现少模光纤链路故障事件定位。提出了以少模光纤高阶模式背向瑞利散射为故障检测的评估标准,利用少模光纤高阶模式的高检测灵敏度特性,可实现对不同故障幅值损耗事件的有效表征,进而实现少模光纤链路故障事件的综合评估,为少模光纤链路简单、精确的故障检测提供了强有力保证。

    一种基于高阶模式背向瑞利散射的少模光纤故障检测方法

    公开(公告)号:CN110071762B

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201910358985.8

    申请日:2019-04-30

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于高阶模式背向瑞利散射的少模光纤故障检测方法,属于光纤故障检测技术领域。本发明针对少模光纤仅利用基模背向瑞利散射进行故障检测所导致的灵敏度低的问题,无法准确有效实现少模光纤链路故障事件定位。提出了以少模光纤高阶模式背向瑞利散射为故障检测的评估标准,利用少模光纤高阶模式的高检测灵敏度特性,可实现对不同故障幅值损耗事件的有效表征,进而实现少模光纤链路故障事件的综合评估,为少模光纤链路简单、精确的故障检测提供了强有力保证。

    一种基于新型连续束缚态的免刻蚀光波导及色散调控方法

    公开(公告)号:CN119758521A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411701147.3

    申请日:2024-11-26

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于新型连续束缚态的免刻蚀光波导及色散调控方法,属于集成光电子领域,从上到下依次包括波导包层、低射率平板层、光波导层、氧化埋层及衬底;所述光波导层、氧化埋层及衬底的宽度及长度均相同;所述波导包层是由若干个条形结构组合而成。所述免刻蚀光波导不需要复杂的刻蚀工艺,降低了制造成本,减少工艺误差和缺陷,简化了制造工艺,且具有低损耗的特性,有利于开发超低损耗的波导器件。所述色散控制方法可以在不使用离子束刻蚀和光刻工艺改变光波导的形貌的情况下实现对模式的色散调控,有助于高性能片上非线性器件的开发。

    一种少模时域反射仪
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109120337A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201811284515.3

    申请日:2018-10-31

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种少模时域反射仪,属于光纤特性测量技术领域,由信号产生模块、光路模块、待测少模光纤模块、探测模块和数据采集及处理模块组成;通过信号产生模块产生多频光脉冲信号,光脉冲信号注入到光路模块,在光路模块进行空间模式转换,转换后的光信号进入待测少模光纤模块,待测少模光纤模块的背向瑞利散射光返回到光路模块进行模式分离,模式分离的光信号进入到探测模块进行光电转换,转换的后信号进入数据采集及处理模块实现信号采集和处理显示。本发明专利解决了应用于少模光纤的在线监测仪器存在空白这一问题,实现了少模光纤网络智能监测、损伤测量、故障定位功能。

    一种基于双光子灯笼和少模光纤环形器的少模光纤模式耦合测量装置

    公开(公告)号:CN106895959A

    公开(公告)日:2017-06-27

    申请号:CN201710247696.1

    申请日:2017-04-17

    Applicant: 吉林大学

    CPC classification number: G01M11/31

    Abstract: 一种基于双光子灯笼和少模光纤环形器的少模光纤模式耦合测量装置,属于光纤特性测量技术领域。由光源、光子灯笼A、少模光纤环形器、被测光纤、光子灯笼B、光电探测模块和信号处理模块组成;由光源产生的光脉冲信号通过光子灯笼A进行空间模式转换并输出指定的单一受激模式,结合少模光纤环形器的单向传输特性,受激模式通过少模光纤环形器进入被测试光纤,随后被测光纤中受激模式和受激模式耦合到非受激模式所产生的背向瑞利散射光通过少模光纤环形器进入光子灯笼B进行空间模式解复用并从相应的模式端口输出,并对输出各路背向散射光进行光电探测及数据处理,即可实现少模光纤模式耦合系数的测量。

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