公开(公告)号：CN1050454C

公开(公告)日：2000-03-15

申请号：CN95107991.3

申请日：1995-08-11

Applicant: 吉林大学

Inventor： 石家纬 ,  金恩顺 ,  李正庭 ,  李红岩 ,  郭树旭 ,  高鼎三

IPC: H01S5/30

Abstract: 本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机(1)、样品箱(3)、数据采集板(4)、电流电压转换电路(7)、光电探测器(30)、电压电流转换电路(10)及信号源(11)和锁相放大器(8)等构成。通过对器件(29)电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试，用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点，实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。

公开(公告)号：CN1117136A

公开(公告)日：1996-02-21

申请号：CN95107991.3

申请日：1995-08-11

Applicant: 吉林大学

Inventor： 石家纬 ,  金恩顺 ,  李正庭 ,  李红岩 ,  郭树旭 ,  高鼎三

IPC: G01N27/02 ,  G01R27/00

Abstract: 本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机(1)、样品箱(3)、数据采集板(4)、电流电压转换电路(7)、光电探测器(30)、电压电流转换电路(10)及信号源(11)和锁相放大器(8)等构成。通过对器件(29)电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试，用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点，实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。

公开(公告)号：CN101183136A

公开(公告)日：2008-05-21

申请号：CN200710193565.6

申请日：2007-12-18

Applicant: 吉林大学

Inventor： 石家纬 ,  郭树旭 ,  梁庆成 ,  曹军胜 ,  刘奎学 ,  李红岩

IPC: G01R31/26 ,  H01S5/00

Abstract: 本发明属于一种检测分析方法，具体涉及一种针对高功率半导体激光器及阵列激光器的质量和可靠性进行检测和筛选的方法。首先测出激光器V－I和P－I曲线，经计算机处理得到电导数曲线IdV/dI～I和光导数曲线dP/dI～I、d2P/dI2～I，然后从光导数曲线d2P/dI2～I或电导数曲线IdV/dI～I得到被测器件的阈值电流Ith，从而得到b、m、Rs1、Rs2、h各参数，再由二阶光导数曲线阈值处的峰高H，峰宽W，峰高峰宽之比Q给出激光器激射时的光特征；最后将所得的各参数与同种结构的器件参数的正常值相比较，从而判定所检测的高功率半导体激光器或阵列激光器的质量和可靠性。本发明方法对器件的筛选具有无损快速简便的特点，适合于广泛使用。