公开(公告)号：CN1117136A

公开(公告)日：1996-02-21

申请号：CN95107991.3

申请日：1995-08-11

Applicant: 吉林大学

Inventor： 石家纬 ,  金恩顺 ,  李正庭 ,  李红岩 ,  郭树旭 ,  高鼎三

IPC: G01N27/02 ,  G01R27/00

Abstract: 本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机(1)、样品箱(3)、数据采集板(4)、电流电压转换电路(7)、光电探测器(30)、电压电流转换电路(10)及信号源(11)和锁相放大器(8)等构成。通过对器件(29)电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试，用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点，实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。

公开(公告)号：CN1050454C

公开(公告)日：2000-03-15

申请号：CN95107991.3

申请日：1995-08-11

Applicant: 吉林大学

Inventor： 石家纬 ,  金恩顺 ,  李正庭 ,  李红岩 ,  郭树旭 ,  高鼎三

IPC: H01S5/30

Abstract: 本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机(1)、样品箱(3)、数据采集板(4)、电流电压转换电路(7)、光电探测器(30)、电压电流转换电路(10)及信号源(11)和锁相放大器(8)等构成。通过对器件(29)电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试，用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点，实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。