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公开(公告)号：CN110687433A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201911012630.X
申请日：2019-10-23
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。
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公开(公告)号：CN103150453B
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201310101920.8
申请日：2013-03-27
Applicant: 吉林大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种结合依赖关系消除误判的等价性验证方法，属于模型验证技术领域。在验证等价性的两个电路中，引入新变量代替候选等价点后得到两电路不等价，此时新引入的变量扩大了原候选等价点的取值范围，可能发生误判。为消除误判，本方法首先对所有候选等价点依据电路结构信息计算其对应的拓扑关系。分析候选等价点对应的拓扑关系是否存在依赖关系：如不存在依赖关系，则不存在误判，即原电路不等价；若候选等价点间如存在依赖关系，则将候选等价点对应的子电路还原，进一步调用约束求解器求解。如果得到可满足的结果，则两电路是不等价的；如不可满足，则发生了误判现象，即两电路是等价的。本发明提高了等价性验证效率和芯片的首次硅片成功率，加快电子产品上市时间。
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公开(公告)号：CN111426937A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010262832.6
申请日：2020-04-07
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。
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公开(公告)号：CN109490753A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811342777.0
申请日：2018-11-13
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851
Abstract: 本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合，并根据故障集合产生测试模式和故障之间的矩阵；最后根据测试模式故障矩阵生成每个故障对应的模式覆盖集，作为输入，利用极小碰集求解方法得到一个极小测试模式集，并对该测试模式集的故障覆盖率进行验证：将该测试模式集重新读入工具，如果其覆盖率降低，则修改或舍弃该解；如果没有降低，那么就将这个极小测试模式集加入解空间。本发明降低了芯片开发过程中的测试成本，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN103150453A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310101920.8
申请日：2013-03-27
Applicant: 吉林大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种结合依赖关系消除误判的等价性验证方法，属于模型验证技术领域。在验证等价性的两个电路中，引入新变量代替候选等价点后得到两电路不等价，此时新引入的变量扩大了原候选等价点的取值范围，可能发生误判。为消除误判，本方法首先对所有候选等价点依据电路结构信息计算其对应的拓扑关系。分析候选等价点对应的拓扑关系是否存在依赖关系：如不存在依赖关系，则不存在误判，即原电路不等价；若候选等价点间如存在依赖关系，则将候选等价点对应的子电路还原，进一步调用约束求解器求解。如果得到可满足的结果，则两电路是不等价的；如不可满足，则发生了误判现象，即两电路是等价的。本发明提高了等价性验证效率和芯片的首次硅片成功率，加快电子产品上市时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102929149A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210444316.0
申请日：2012-11-08
Applicant: 吉林大学
IPC: G05B13/04
Abstract: 本发明涉及一种离散事件系统的反向遍历诊断方法，属于模型诊断技术领域。首先建立系统模型自动机；选择合适位置加入便于诊断所需的传感器，参考系统最大传输延迟的相关性质设计时间窗口。然后，根据时间窗口的长度，周期得到系统的观测序列和状态。随后，如当观测序列发生改变时，根据当前时间窗口内的观测和自动机间的转移关系，进行反向遍历，反向遍历得到前一状态的信息。如果为初始状态，则给出相应路径及其故障信息；如果为中间状态，则根据此中间状态给出相应的路径及其诊断信息。此时如果得到诊断信息，将此窗口内得到的观测和诊断信息加入到中间状态列表，完成当前窗口观测的诊断。否则继续反向遍历前一状态，直到完成诊断。
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公开(公告)号：CN101887473A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN201010204016.6
申请日：2010-06-21
Applicant: 吉林大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种结合约束满足消除误判的等价性验证方法，属于模型验证技术领域。本方法首先在规范模型和实现模型中根据启发式信息选择合适的候选等价对；然后在约束求解器中对电路的输入变量进行基于边界赋值的约束传播快速求解；最后如果不存在误判现象，直接输入结果；否则用如下方法消除误判：a)将当前等价对所对应的模型转为约束关系；b)用约束求解器求得所有规范模型和实现模型不等价的赋值，并转为约束关系；c)将步骤a和b得到的约束关系调用约束求解器的进行求解，如结果为不可满足，则得到两模型等价；如果为可满足，则得到模型不等价。本发明提高了等价性验证效率和芯片的首次硅片成功率，加快电子产品上市时间。
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公开(公告)号：CN110687433B
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN201911012630.X
申请日：2019-10-23
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。
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公开(公告)号：CN111426937B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202010262832.6
申请日：2020-04-07
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。
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公开(公告)号：CN109490753B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201811342777.0
申请日：2018-11-13
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合，并根据故障集合产生测试模式和故障之间的矩阵；最后根据测试模式故障矩阵生成每个故障对应的模式覆盖集，作为输入，利用极小碰集求解方法得到一个极小测试模式集，并对该测试模式集的故障覆盖率进行验证：将该测试模式集重新读入工具，如果其覆盖率降低，则修改或舍弃该解；如果没有降低，那么就将这个极小测试模式集加入解空间。本发明降低了芯片开发过程中的测试成本，提高测试效率。
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