公开(公告)号：CN111426937B

公开(公告)日：2021-09-24

申请号：CN202010262832.6

申请日：2020-04-07

Applicant: 吉林大学

Inventor： 宋金彩 ,  欧阳丹彤 ,  张立明 ,  田新亮 ,  太然 ,  蒋璐宇 ,  田乃予

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。

公开(公告)号：CN111426937A

公开(公告)日：2020-07-17

申请号：CN202010262832.6

申请日：2020-04-07

Applicant: 吉林大学

Inventor： 宋金彩 ,  欧阳丹彤 ,  张立明 ,  田新亮 ,  太然 ,  蒋璐宇 ,  田乃予

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。