极紫外光容器检查方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109324062B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN201810709621.5

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 本公开提供用于直接检查极紫外光容器的整个内部的单次拍摄测量。可提供包括与极紫外光容器整合的检查工具的一极紫外光容器。在检查过程中,检查工具移入极紫外光容器的主要聚焦区域。当检查工具是设置在主要聚焦区域,并且当通过一照明器向极紫外光容器的内部提供一实质地均匀且恒定的照明度时,极紫外光容器的内部的一全景影像可以通过检查工具的一单次拍摄来获取。之后,极紫外光容器中的多个元件上的锡污染程度可以基于极紫外光容器的内部的全景影像来量化。所量化的污染程度可以与一关键绩效指标做比较,并且可以实行一失控行动计划。

    倍缩光罩载体及其操作的方法

    公开(公告)号:CN115524920A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202210282260.7

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 一种倍缩光罩载体及其操作的方法,倍缩光罩载体用以快速放电倍缩光罩上的剩余电荷,以防止倍缩光罩载体中的粒子吸附至或转移至倍缩光罩。倍缩光罩载体可用以在倍缩光罩载体的内底板与倍缩光罩之间提供减小的电容。电容的减小可减小用于放电倍缩光罩上剩余电荷的电阻电容(RC)时间常数,这可提高经由倍缩光罩载体的支撑销放电剩余电荷的放电速度。放电速度的提高可降低倍缩光罩载体中的静电力将倍缩光罩载体中的粒子吸附至倍缩光罩的可能性。这可减少转移至基板的使用倍缩光罩来图案化的图案缺陷,可提高半导体装置制造品质及产率。

    薄膜组件和倍缩光罩组件的形成方法以及薄膜膜状物

    公开(公告)号:CN115016226A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202110820401.1

    申请日:2021-07-20

    Abstract: 一种薄膜组件和倍缩光罩组件的形成方法以及薄膜膜状物,形成薄膜组件的方法包括减少一或多个初始膜状物的厚度以获得薄膜膜状物。接着将薄膜膜状物固定至安装框架以获得薄膜组件。可施加压缩压力以减少初始膜状物的厚度。可替代的是,通过拉伸初始膜状物来减少厚度以获得经延伸膜状物。接着将安装框架固定至经延伸膜状物的一部分。接着将安装框架及经延伸膜状物的此部分与经延伸膜状物的其余部分分离,以获得薄膜组件。所得薄膜组件包括附接至安装框架的薄膜膜状物。薄膜膜状物可由纳米管形成且具有高透射率、低偏转及小微孔尺寸的组合。

    晶圆台的操作方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114975088A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210100725.2

    申请日:2022-01-27

    Abstract: 一种晶圆台的操作方法,包含将晶圆台移动到微影腔室的桌体上的第一站;将晶圆放置在晶圆台的顶面上;从第一激光发射器向晶圆台的第一侧壁上的第一分光镜发射第一激光,其中第一激光的第一部分被第一分光镜反射以形成第一反射激光,而第一激光的第二部分穿过第一分光镜以形成第一穿透激光;根据第一反射激光计算晶圆台在第一轴上的位置;在计算出晶圆台的位置后,将晶圆台移动到桌体上的第二站;以及当晶圆台位于第二站时,对晶圆进行微影制程。

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