半导体装置及其形成方法

    公开(公告)号:CN111627943B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202010096046.3

    申请日:2020-02-17

    Abstract: 一种形成半导体装置的方法,包含形成光感区域于基材的前侧上。形成第一层于基材的后侧且第一层被图案化以形成多个网格线。网格线可定义出多个第一区域和多个第二区域。第二层可形成于后侧、网格线、第一区域和第二区域的暴露部分上,且第三层形成于第二层上。第二层和第三层可具有不同的蚀刻速率,且第三层被图案化,从而可由多个第一区域上方除去第三层。

    半导体装置及其形成方法

    公开(公告)号:CN111627943A

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN202010096046.3

    申请日:2020-02-17

    Abstract: 一种形成半导体装置的方法,包含形成光感区域于基材的前侧上。形成第一层于基材的后侧且第一层被图案化以形成多个网格线。网格线可定义出多个第一区域和多个第二区域。第二层可形成于后侧、网格线、第一区域和第二区域的暴露部分上,且第三层形成于第二层上。第二层和第三层可具有不同的蚀刻速率,且第三层被图案化,从而可由多个第一区域上方除去第三层。

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