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公开(公告)号:CN106019849A
公开(公告)日:2016-10-12
申请号:CN201510755863.4
申请日:2015-11-09
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G03F7/20 , H01L21/033
CPC classification number: H01L21/3081 , G03F7/0751 , G03F7/0752 , G03F7/091 , G03F7/094 , H01L21/02126 , H01L21/0271 , H01L21/0274 , H01L21/0276 , H01L21/0332 , H01L21/266 , H01L21/3086 , H01L21/31111 , H01L21/31133 , H01L21/31138 , H01L21/32 , H01L21/67075 , H01L21/0331 , G03F7/20
Abstract: 根据一些实施例提供了一种光刻方法。光刻方法包括在衬底上形成聚合材料的下层;在下层上形成含硅中间层,其中含硅中间层具有重量百分比小于20%的硅浓度并且是可湿剥离的;在含硅中间层上形成图案化的光敏层;实施第一蚀刻工艺以将图案化的光敏层的图案转印至含硅中间层;实施第二蚀刻工艺以将图案转印至下层;以及对含硅中间层和下层实施湿剥离工艺。
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公开(公告)号:CN106019849B
公开(公告)日:2018-04-17
申请号:CN201510755863.4
申请日:2015-11-09
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: G03F7/20 , H01L21/033
CPC classification number: H01L21/3081 , G03F7/0751 , G03F7/0752 , G03F7/091 , G03F7/094 , H01L21/02126 , H01L21/0271 , H01L21/0274 , H01L21/0276 , H01L21/0332 , H01L21/266 , H01L21/3086 , H01L21/31111 , H01L21/31133 , H01L21/31138 , H01L21/32 , H01L21/67075
Abstract: 根据一些实施例提供了一种光刻方法。光刻方法包括在衬底上形成聚合材料的下层;在下层上形成含硅中间层,其中含硅中间层具有重量百分比小于20%的硅浓度并且是可湿剥离的;在含硅中间层上形成图案化的光敏层;实施第一蚀刻工艺以将图案化的光敏层的图案转印至含硅中间层;实施第二蚀刻工艺以将图案转印至下层;以及对含硅中间层和下层实施湿剥离工艺。
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